GERATE 
ZUR QUANTITATIVEN METALLOGRAPHIE VON SCHNELLARBEITSSTAHLEN IM REM: Im Gec 
KONTRASTVERBESSERUNG DURCH DECKSCHICHTEN Elektr 
schirn 
S.Karagoz', H.Fischmeister’ Bildri 
zeigt 
*Montanuniversität Leoben, Österreich 
**Max-Planck-Institut fiir Metallforschung, Stuttgart, BRD 
ABSTRACT 
Scanning electron microscopy in the secondary electron mode offers sufficient 
resolution and speed for quantitative metallography of hiah speed steels containing 
fine carbides, but contrast - especially between MC and the matrix - is often poor 
in the unetched sections required for quantitative microscopy. It is shown that the 
contrast can be improved by thin semiconducting surface layers, e.q.60 nm of 
ZnSe. 
Bild 
For quantitative image analyses, the distortion of SEM images by-non-linearities 
of the beam deflection must be borne in mind. An example demonstrates that this can 
severely limit the field available for evaluation. 
EINLEITUNG verweı 
nur de 
Die quantitativ-metallographische Gefügeanalyse setzt genügend gute Differenzier- Inner! 
barkeit der einzelnen Phasen durch Bildkontrast voraus. Bei der lichtmikroskopischen 
Untersuchung von Schnellarbeitsstdhlen lassen sich die Phasen kontrastieren durch: KONTR/ 
a) chemisches Atzen (Selektive Abtragung der Matrix oder der Karbide bzw. 
phasenspezifische Deckschichtbildung auf Karbiden) Der Kı 
b) Aufbringen von Interferenzschichten +önen 
Das Auflösungsvermögen des Lichtmikroskops reicht aber nicht aus, um die Karbide elekt 
in Schnellarbeitsstählen (und besonders ihre Größenverteilung) unverfälscht wieder- zahl 
zugeben. Zur Herstellung der aus Gründen der Zählstatisti.k erforderlichen Bild- 
reihen bietet sich als hinreichend schnelle Methode mit genügender Auflösung die Wie st 
Rasterelektronenmikroskopie an. . 
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