Das Aluminiumoxyd ist ein Nichtleiter; dementsprechend ist sein Verhalten bei der 
Abbildung einer unbedampften Probenoberfliche. Bild 7 zeigt die Aufladung eines 
A1,05-Teilchens und das allmdhliche Abklingen der Aufladung durch die zunehmende 
Kontamination der Abbildungsflache. A1,05-Teilchen haben wie MnS eine sehr niedrige 
mittlere Ordnungszahl und sind für den Elektronenstrahl ähnlich "durchsichtig" wie 
MnS bzw. ein Loch. 
KONTRASTANDERUNGEN BZW. - VERSCHIEBUNGEN IM REM DURCH OBERFLACHENSCHICHTEN 
Schon eine Behandlung der Probenoberfldche mit Tixo-Klebeband, wie man sie zur 
Reinigung der Oberfläche gelegentlich ausführt (Andriicken und Abziehen des Klebe- 
streifens) bringt eine Kontrastverschiebung bei den MC-Karbiden der pulvermetallurgi- 
schen Schnellarbeitsstdhle (Bild 8). 
5 um 
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Bild 8: Gleiche Probe wie Bild 2, nach Tixo-Abzug 
Ein Vergleich mit Bild 2 zeigt, daB die MC-Phase dabei besser differenzierbar wird. 
Mikrodensitometrische Untersuchungen an Negativen zeigen, daß MC an relativer 
Intensität gewonnen hat. Das MC-Karbid, das vor dem Tixo-Abzug deutlich heller als 
die Matrix war, scheint nun dunkler. Offensichtlich kommt es beim Tixo-Abzug zu 
einer Reaktion zwischen Kleber und Probenoberfläche, wobei das MC-Karbid am 
stärksten beeinflußt wird; die vermutlich gebildete Oberflächenschicht verursacht 
bei den MC-Karbiden stärkeren SE-Ausbeuteverlust. 
Auch die Zeit, die zwischen dem Diamantpolieren und dem Reinigen der Probe im Ultra- 
schallbad verstreicht, beeinflußt die Kontrastverhältnisse im REM. Kontrollversuche 
zeigten, daß die Polierflüssigkeit (wesentlicher Kontrastfaktor:Athylenalykol) die 
a Probenoberfläche leicht beeinflußt (Bild 9); die resultierende Kontrastverbesseruna der 
0.7