Abb. 13: Oberfldchenstruktur eines Abb. 14: Detail aus Abb. 13 
fehlorientierten Schicht- 
bereiches (45° gekippt) 
Fehlorientierte Proben 
Die REM-Aufnahmen, Abb. 13 und Abb. 14, zeicen eine mosaikartige 
Oberflichentopographie. Man erkennt in Abb. 14, daB die Kristallite 
geringe Orientierungsunterschiede aufweisen und daß sich in Be- 
reichen, die sehr schlecht zusammenpassen (Pfeil), neue Kristalle 
gebildet haben. Die Laue-Aufnahme, Abb. 15, zeigt neben den typisch 
einkristallinen Reflexen fiir PbTe und BaF, vereinzelte zusätzliche 
Reflexe (Pfeil), die auf eine geringe Fehl- 
orientierung einzelner PbTe-Kristallite 
hinweisen. Die Schicht scheint überwiegend 
aus epitaktisch aufgewachsenen Einzel- 
kristallen aufgebaut, wobei eine geringe 
Anzahl von Kristalliten eine Fehlorientierung 
aufweisen. 
Die Schichtränder dieser Proben, Abb. 16 und 
Abb. 17, zeigen eine fast perfekte Epitaxie 
, der einzelnen Kristallite. 
cht- Abb. 15: Laue-Aufnahme Dieses Wachstum entspricht dem sogenannten 
) PbTe-Schicht Inselwachstum (Abb. 5a). Wie Abb. 17 zeigt, 
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