Full text: Fortschritte in der Metallographie

und 1b). Hier ist die Ni-Basis-Legierung HASTELLOY X nach der iiblichen metallo- 
graphischen Prdparationstechnik (Abb. la) und nach der Kontrastierung durch eine 
Eisenoxidschicht (Abb. 1b) dargestellt. 
Fir eine sichere und reproduzierbare Phasenerkennung, im besonderen aber fiir eine 
quantitative Phasenbestimmung in einem automatischen Bildanalysator, reicht die 
reine Empirie nicht mehr aus; die dafiir notwendigen Grundlagen-Untersuchungen zur 
Interferenzschichten-Metallographie sind inzwischen sehr weit fortgeschritten. 
Darüber wurde bereits an anderer Stelle berichtet /1,2/, so daß auf Einzelheiten 
hier nicht mehr eingegangen muß. 
3. Auswahl geeigneter Schichtwerkstoffe 
arungen 
ver- Grundlage der Festlegung einer optimal geeigneten Kombination von Werkstoff und 
ie Interferenzschicht ist die Kenntnis der optischen Konstanten Brechungsindex no und 
be- Absorptionskoeffizient kp aller in einem Werkstoff vorhandenen Phasen. 
hen 
3 Abb. 2a) stellt diese Verhältnisse für in der Praxis benutzte Werkstoffe und 
Schichtmaterialien dar. Im Bereich der "Ellipse" liegen die Nps kp-Wertepaare fiir 
zu die Matrices der Fe- und Ni-Basislegierungen und der in diesen Werkstoffen vor- 
kommenden Primar-Carbide MgC und der Sekunddrcarbide M,3Cq bzw. Carbide des Typs 
MC. Fir die Messungen wurden die Ni-Basislegierungen HASTELLOY X, M 21, INCONEL 617 
und INCONEL 718 sowie die Fe-Basislegierung INCOLOY 800 H in einem Wellenlangen- 
und bereich von 500 bis 600 nm herangezogen /3/. In der hier gezeigten Abbildung sind 
lediglich die fiir die Wellenlänge A = 550 nm ermittelten Werte aufgetragen. 
In der Abb. 2b) wurde die gleiche Darstellung Kp über no gewählt. Neben den 
optischen Konstanten der einzelnen Phasen sind die optischen Eigenschaften der 
Interferenzschichten bei der Optimierung der Kontrastverhältnisse von Bedeutung. 
talls Die optischen Eigenschaften der Schicht wiederum werden festgelegt durch Brechungs- 
und index, Absorptionskoeffizient, Schichtdicke sowie gewählte Wellenlänge A . Das 
chen schraffierte Gebiet stellt den Bereich dar, in dem mit dem absorbierenden Schicht- 
ali- werkstoff Eisenoxid beschichtete Phasen in Abhängigkeit von ihren optischen 
z Konstanten Np und Kp das Reflexionsvermogen R = 0 erreichen, also vollig ausge- 
raus löscht werden. Diese Aussage gilt natürlich nur für die Wellenlänge, für die die 
er- sog. "Amplituden-" und "Phasenbedingung“ erfüllt sind, also für eine Betrachtung in 
t- monochromatischem Auflicht. Zu bemerken ist, daß die Lage der Zone völliger AuS- 
er- löschung berechnet und nicht gemessen wurde. Die untere Grenze dieses Bereichs 
la) 
551
	        
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