Sekunddrelektronenaufnahmen in Fig. 3 bzw. 4 und werden durch 
aufeinanderfolgende Aufnahmen der Verteilungsbilder einzelner 
Elemente erhalten. Der Schwellwert bei der Aufnahme von Probe A 
(Fig. 5) betrdgt fiir Kupfer 8 counts/MeBzeit und fiir Ag 3 counts/ 
MeBzeit. Die Elementverteilung der Probe B (Fig. 6) ist mit hShe- 
rer Auflösung aufgenommen und zeigt zudem die Möglichkeit, topo- 
graphische Effekte zu erzielen: Eine zweite Messung des Vertei- 
lungsbildes desselben Elements, jedoch mit erhöhtem Schwellwert, 
kann Bereiche erhöhter Intensität hervorheben. Diese doppelte 
Abbildung ist in Fig. 6 für Pb und Ag durchgeführt. 
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