bei A = 600 nm k, nur noch einen Wert von 0,11 besitzt (rechte Abbildung). Bei Liter 
diesen beiden Diagrammen wurden die auf Glasträgern ermittelten optischen 
Konstanten verwendet. Wie zu erkennen ist, verschiebt sich der Bereich völliger 1) 
Auslöschung bei Variation der Wellenlänge über einen großen Bereich von np=Kp- 
Werten. Für alle Phasen, die in diesem Bereich liegen, also auch für HASTELLOY X 
mit seinen beiden Carbiden, lassen sich bei Beschichtung mit Eisenoxid demnach 
Bedingungen einstellen, die jeweils eine Auslöschung einzelner Phasen zulassen und 
somit - zumindest rechnerisch - den maximalen Kontrast von K = 1 ergeben. 
Diese Anpassungsmöglichkeit der Schicht an den Werkstoff durch Variation der 
Wellenlänge des Auflichts, die auch bei anderen Schichtmaterialien, besonders auS- 3) Fk 
geprägt aber bei Eisenoxid zutage tritt, soll schließlich anhand eines Beispiels C 
demonstriert werden. Die Abb. 6 zeigt die Nickelbasislegierung HASTELLOY X, farb- pr 
kontrastiert mit reaktiv aufgesputtertem Eisen, die Schichtdicke beträgt etwa 35 nm 
(0-te Ordnung). Bei Verwendung monochromatischen Auflichtes konnen allein durch 
Variation der Wellenldnge die Interferenzbedingungen so gesteuert werden, daß für 
kleines A (hier bei etwa 450 nm) die Matrix, für A= 445 nm das Carbid M23C6 
und schließlich für A = 535 nm das Carbid MgC die dunkelste Phase darstellt und 
sich von den übrigen Phasen kontrastreich abhebt. Da in diesem Beispiel nur die 5) 0 
Wellenlänge, nicht aber die Schichtdicke d, variiert wurde, wird die Interferenz- C 
bedingung (R = 0) nur annähernd erfüllt. Bedingt durch Fehlerquellen, wie die 
endliche Bandbreite des Monochromators, die nicht exakt einstellbare Schichtdicke, 
Fehler bei der Bestimmung der optischen Konstanten, bleibt die Realisierung der 
Maximalforderung "Kontrast K = 1" allein der Theorie vorbehalten. 
5. Zusammenfassung 
- Es wird ein Verfahren zur Bestimmung optischer Konstanten absorbierender 
Interferenzschichten vorgestellt. Als Trägermaterial wird bei dieser 
Methode nicht notwendigerweise Glas, sondern der zu analysierende metallo- 
graphische Schliff selbst oder ein ihm verwandter Werkstoff eingesetzt. 
- Die auf Glasträgern ermittelten optischen Konstanten können von den auf 
metallischem Träger bestimmten beträchtlich abweichen. 
- Um mit einer möglichst geringen Zahl von Schichtmaterialien auszukommen, 
ist es ratsam, Schichtwerkstoffe mit stark wellenlängenabhängigen Ab- 
sorptionskoeffizienten, z.B. Eisenoxid, einzusetzen. 
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