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E,=30 keV
HSS 054 Normal Incidence
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Abb. 2: Rickstreuelektronen-Ausbeute n in Abhängigkeit von der
Ordnungszahl Z des abgebildeten Materials /2/.
Zur Kontraststeigerung bei Verwendung von Rückstreuelektronen bietet
Sich in Anlehnung an Abb. 2 das selektive Aufbringen einer dünnen
Schicht mit höherer Ordnungszahl auf die zu untersuchende Phase an.
Eine Probe, an der ein für die Lichtmikroskopie entwickeltes Ver-
fahren der Farbätzung /3,4,5/ fiir die Rasterelektronenmikroskopie an-
gewandt wurde, zeigt die Abb. 3. Bei gleichen elektronenoptischen Be-
dingungen wie in Abb. 1 zeigt diese Aufnahme deutlich die Kontraststei-
gerung. Hierbei wird durch Eintauchen der geschliffenen und polierten
Probe chemisch selektiv eine MoO„-Schicht auf die Siliziumphase aufge-
bracht, wodurch direkt an der Oberfläche die gewünschte Erhöhung des
Ordnungszahlunterschieds zwischen den Aluminium- und den Siliziumberei-
chen erreicht wird. Die Siliziumphase erscheint jetzt deutlich heller
„Le als die Aluminiumphase ähnlich den Fe-, Cu- und Ni-haltigen hellen
intermetallischen Phasen. Geätzt wurde hier mit dem Malleteschen Ätz-
mittel /6/, einer Mischung von 400 ml Athanol und 20 ml einer Lösung
von 50 ml H,0, 50 ml HNO 5 und 7,5 g Ammoniummolybdat. Die Atzdauer be-
trug ca. 15 s, wobei die Probe frisch poliert sein sollte, um einen
gleichmäßigen Niederschlag zu erreichen. Dieses Verfahren der Farbät-
zung läßt sich mit Sicherheit auch auf andere Legierungen anwenden,
bei denen der Ordnungszahlunterschied der zu unterscheidenden Phasen
Te —-
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