) N = Um Polymer—Fasern zu gewinnen wird sphérolithisches Material kalt oder warm verstreckt.
oF Dabei wirkt die Kraft zunichst auf die Kettensegmente in den nichtkristallisierten Bereichen
oo und bewirkt eine Ausrichtung der Kristallite, die sich im Verlauf von Gleitprozessen zwischen
den Ketten reorganisieren. Auch Polymerfasern bestehen aus Faltlamellen mehr oder weniger
; einheitlicher Orientierung. Es ist keineswegs so, daß in einer Faser die Polymerketten gestreckt
7 vorliegen, wie es irrtümlich häufig angenommen wird. Ausnahmen davon werden weiter unten
u. vorgestellt.
Anke Abb. 7
I Auflichtinterferenzmikro-
skopische Aufnahme eines
Polyethylen-Einkristalls
(Wachstumsspirale)
Ts
Die Faltlamelle entsteht in ihrer am wenigsten gestörten Form, wenn Polymere aus verdiinnter
Lösung kristallisiert werden. Abb. 7 zeigt das interferenzmikroskopische Bild eines Polyethylen-
Einkristalls in Form einer Wachstumsspirale. Es hat sich — historisch begründet — für die
Faltlamellen der Ausdruck "Einkristall" eingebürgert, obwohl man inzwischen weiß, daß ein
cE kristalliner Kern beidseitig von ungeordneten Schichten eingeschlossen wird, in denen die
scher Ketten umfalten und in denen sich die Mehrzahl der Kettenenden befinden. An den Ketten-
enden sitzen häufig Endgruppen, die sich chemisch von den Wiederholungseinheiten der Kette
unterscheiden und durch ihr zusätzliches Volumen im Kristallinneren zu weitreichenden
mikroskopische Gitterstörungen Anlaß gäben. Da die aus Lösung kristallisierten Lamellen kristallographisch
Eh N iz indizierbare laterale Grenzflächen haben und darüber hinaus bei Elektronenbeugung
Polarisator und Einkristalldiagramme erhalten werden, ist verständlich, daß die Lamellen ursprünglich als
) [ies Einkristalle angesehen wurden. Die Dicke der Lamellen nimmt mit abnehmender Unterkühlung
x dort die bei der Kristallisation zu. Typische Werte sind 10 — 15 nm.
. “Zw Die Darstellung von Polymer—Finkristallen gelingt lichtmikroskopisch am besten mit einem'
ERE © ‘Auflicht—Interferenzverfahren, entweder nach Nomarski oder nach Priparation der Kristalle
ern lauf /2—Aufdampfschichten aus SiO mit konventioneller Auflichtoptik. Bei der Betrachtung im
a ‘Zweistrahl—Durchlichtinterferenzverfahren läßt sich bei bekanntem Brechungsindex auch die
Prem Dicke bestimmen, wenn man den Gangunterschied, den die Kristallamelle gegeniiber den
benachbarten Bereichen erzeugt, mit einem A /10— oder A /30—Kompensator mifit. In Abb. 7 ist
eine Wachstumsspirale abgebildet, die um eine Schrauben—Versetzung herum gewachsen ist.
Die Aufnahme ist in monochromatischem Auflicht gemacht worden. Die dunklen Streifen;
Prakt. Met. Sonderbd. 21 (1990)
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