Abb. 10 zeigt, daß es im REM schwierig ist, die im Lichtmikroskop
sichtbaren Phasen zu erkennen. Neben den hell erscheinenden Wolfram-
karbiden, die sich aus vielen kleinen Teilchen zusammensetzen, Spek-
trum E, ist eine etwas dunklere tieferliegende und daher wahrschein-
lich weichere wolframhaltige Phase zu erkennen, Abb. 11 und Spektrum ı
Diese Phase tritt nur in den Bereichen des Wolframkarbides auf. Hier-
bei wandelt offensichtlich ein Teil des Wolframkarbides zu einer W-
CrCoNi-Phase um. Durch Kontraständerung ist es möglich, auch die den-
dritischen und eutektischen Bereiche im REM sichtbar zu machen, Abb.
12 und 13. Analysen aus diesen Bereichen zeigen die Spektren F und H.
Die in Abb. 12 zu sehenden schwarzen Phasen konnten eindeutig als Cr-
Phasen identifiziert werden. Es ist wahrscheinlich CrB (Phase Pfeil).
Auch bei den in den Abb. 12 und 13 gezeigten hellen und dunklen Pha- I
sen, die in einer grauen Matrix aus NiCo eingebettet sind, konnte mit Me
einer EDX-Analyse ein Cr-Gehalt von 18 % (dunkle Phase) und 6,5 % Cr a
(helle Phase) gemessen werden, Spektrum G und H
Zusammenfassung
Mit diesem Beitrag sollte gezeigt werden, daß es möglich ist, den
vielphasigen Aufbau thermisch gespritzter NiCrBSi-Schichten mit 50 %
WC mit Hilfe der Licht- und Elektronenmikroskopie befriedigend darzu-
stellen.
Wichtig erscheint dabei die richtige Präparationsmethode für die me-
tallografischen Schliffe. Insbesondere die Kontrastierverfahren müs-
sen sorgfältig ausgesucht werden. Ein chemisches Tauchätzen hat sich
als nicht vorteilhaft herausgestellt.
Elektronenoptische Untersuchungen in Verbindung mit der Mikroanalyse
(EDX) empfehlen sich als Ergänzung zur Lichtmikroskopie. Bei einge-
schmolzenen Schichten ist es schwierig, die zahlreich auftretenden
Phasen kontrastreich im REM darzustellen.
EDX-Untersuchungen an der nicht eingeschmolzenen Schicht liefern be-
friedigende Ergebnisse, während die Interpretation der zahlreichen
Phasen der eingeschmolzenen Schicht anhand der EDX-Spektren schwierig
ist, da die Größe der Phasen zum Teil deutlich die Ortsauflösung der
EDX-Sonde unterschreitet.
Prakt. Met. Sonderbd. 21 (1990)
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