90 Prakt. Met. Sonderband 41 (2009)
Orientierung:
hängt auch «
dabei fiir die
Polierverfahr
der (elektro-
Abb. 2: Image Quality Maps der (v.l.n.r.) manuell polierten, 16.5h vibrationspolierten, 1pm vor- und dann
elektrolytisch polierten, sowie der mit dem Cross-Section Polisher polierten Probe.
Wie man sieht, weist die manuell polierte Probe noch deutliche Kratzer auf. Darüber hinaus geben
nur wenige Körner Beugungsbilder mit gleichmäßig gutem Kontrast (zumeist Körner mit <1 1 1>-
Orientierung parallel zur Probennormalen), bei allen anderen Körnern ist die Kristallinität an der
Oberfläche massiv gestört. Nach der Vibrationspolitur sind selbst nach über 16h auch noch Kratzer
auf der Probenoberfläche, die Körner weisen aber deutlich gleichmäßigere Kontraste auf. Die Abb. 3: Verglei
Zweitphase zeichnet sich dagegen durch schlechte Image Quality-Werte verbunden mit einer als fir die einzelne
. ee ges . . . . Section-Politur;
kubisch raumzentriert indizierten Kristallstruktur aus, was darauf hindeutet, dass ein großer Teil der und 16.5h Vibro
Zweitphase nach der Vibrationspolitur als Martensit vorliegt. Die elektropolierte Probe dagegen
weist kaum noch Kratzer auf, die Körner haben eine gleichmäßige Image Quality, und auch nur ein Im Hinblick a
deutlich kleinerer Anteil der Zweitphase ist in Martensit umgeklappt. Bei der Ar-ionenpolierten 14%, die u.a.
Probe schließlich macht sich deutlich die faltige Struktur der Oberfläche bemerkbar, die dazu führt, Proben detekı
dass die Image Quality-Werte mit der Topographie variieren. Auch hier liegt ein großer Teil der Ergebnisse m
Zweitphase als Martensit vor. ionenstrahlbas
Allein die (e
Einige der Kenndaten sind für alle Präparationsverfahren in Abb. 3 zusammengetragen. Oben links präparierten F
die mittleren IQ-Werte mit Standardabweichung. Wie man sieht, werden die besten Ergebnisse bei uns angewen
langen Laufzeiten auf der Vibromet oder nach Elektropolitur erzielt. Allerdings variiert die Image Topographie z
Quality je nach Präparationsverfahren systematisch: Bei den Ionenstrahl-Verfahren (Cross-Section- bei 70° Kippi
Polisher und FIB) senken die topographisch bedingten Abschattungen die Mittelwerte herab, bei darüber hinaus
mechanisch präparierten Proben sind es vor allem die Kratzer und Deformationsschichten, die zu Restaustenitge
kleineren IQ-Werten führen. Ein weiterer nützlicher Parameter, besonders um lokale Deformationen zunehmender
in den Proben zu beschreiben, ist die sogenannte Kernel Average Misorientation. Dabei wird an
jedem Punkt die gemessene Orientierung mit den Orientierungen der Nachbarpunkte verglichen und
die Misorientierung gemittelt, solange die Nachbarpunkte im selben Korn liegen, d.h. eine
