Prakt. Met. Sonderband 41 (2009) 137 
gelförmigen Auf diese Weise wurden ausreichende große, im TEM durchstrahlbare Bereiche erhalten, die auch 
- Zugproben fiir EDX-Analysen geeignet waren. In der Abbildung 11 sind die TEM-Aufnahme mit 
eihenformig dazugehoériger HAADF-Aufnahme und EDX-Map dargestellt. 
ie vor allem 
nechanische 
rbindungen. 
in den 
mfangreiche 
e Komer- 
estgestellten 
ingen, Vvor- 
.orngrenzen, 
; Werkstoff 
und fällt auf 
les Basis- 
Abb. 8). 
| Elek- At 10 HAADF- fine nd EDX-Man iverson Scanbereioh. siche Abb. 13 
or Belastung 
n Verbinden DI 
re Zur genaueren und vor allem 
gezielten Analyse im TEM von 
den Bereichen z.B. zwischen 
Wolframmatrix und Lathanoxid- 
Einlagerungen wurden auch 
TEM-Lamellen mit Hilfe des 
Dualbeam REM/FIB Gerätes 
Delastingsn angefertigt, siehe Abb. 12. = 
a — Wolfram In der dazugehörigen HAADF- 
cit. Bei der Aufnahme treten die quer ange- 
ol Probleme schnittenen Lanthanoxid-Nadeln 
rden können. deutlich hervor. Der EDX-Line- 
st nach‘ dem Scan belegt die Homogenität des 
Gefüges (Abb. 13). 
ch. 
Abb. 13: HAADF-Aufnahme und EDX-Line-Scan 
Anhand der so erhaltenen Resultate, war der Eindruck entstanden, dass das Lanthanoxid nach dem 
Herstellungsprozess auch im Gefüge immer nadelförmig vorliegt. Die Slice&View Technik im 
Dualbeam REM/FIB Gerät zeigte allerdings im aufgeführten Beispiel der Abbildugen 14 und 15, 
dass auch unterschiedlich breite Flakes oder auch Blättchen im Wolframgefüge eingelagert sein 
können. 
Es ist notwendig, den zukünftigen Fertigungsprozess des Wolfram-Lanthanoxid-Legierung weiter 
zu optimieren und genauer zu überwachen.