Prakt. Met. Sonderband 41 (2009) 161
6Be, Form und Phasenkontrastdurch- Hiiftpfanne aus Diinnschnitte,
Phasen lichtmikroskopie, héchstmolekularem Diinnschliffe
ppelbrechung, Verteilung von Hilfs- Polyethylen Präparatedicke
1 chemisches stoffen und der Ungentigende 10um,
analve- Homogenitét im Sinterung des Ultra- ~~ Eingebettet in
Diinnschnitt hochmolukularen Siliconol Jum
Polvethviens : i
a . | Bild 15: Hiiftpfanne aus UHMPE
Methode 2: Phasenkontrastdurchlichtmikroskopie
Tax 1 1p ~ + 1 t1or ~ T ~~ oq
' Anschliff Fein geschliffene Ober- Geätzte und
Auflicht-Hellfeld fläche durch kurzzeitigen ungeätzte
{0pm Aufklärung der Wärmeeintrag geätzt, Anschliffe,
in einer Bruchursache, geschweifites und Oberfläche wird
wgebettet. Ermittlung der gerissenes, kreidegefülltes durch Wärme
it leichter Wärmeeinflusszone Polypropylenabwasserrohr strukturiert
ichtbeleuchtung bei einer Teilkristallin, homogen ,
‘ung, Durchmesser Schwei Bn aht op ak Bild 15: PP-Abwasserrohr
er Fasern komen Anschliff Im Auflicht-Hellfeld kann Anschliffe
Auflicht-Dunkelfeld die Folie nur sehr schwach ungeätzt, die
Aufklärung der erkannt werden, die Kontrastierung
Folienschichtdicke Schichten können nicht erfolgt ausschließ-
einzeln sichtbar gemacht lich im Auflicht- ,
werden Dunkelfeld nm /
ıterschiedlichen | Bild 16: Verpackungsfolie
Untersuchungs- Methode 3: Auflicht-Hellfeld, Auflicht-Dunkelfeld
‚zu finden. Im
hungsmethoden
5 Untersuchungsweg zur lichtmikroskopischen Kunststoffcharakterisierung
Urprobe
:nbila
Ziel der Untersuchung go Methodenauswahl
Makrountersuchung, on line Qualititssicherung, Gefiige, optische Daten;
Lunker, FlieBnihte, Korner, Einschliisse, Abkiihlungseinfliisse,
Phasenart, -menge, -verteilung, Anisotropie. Brechzahl,
20pm probenvorbercitu und Priiparation
hire me Muss die Probe verfestigt werden? Kann mit Wasser gekiihlt werden?
Welche Präparation lässt spätere Ergänzungsuntersuchungen zu?
marr. x —
Auflicht v Durchlicht
Anschliff Totalpräparat Dünnschliff
Anschnitt Körnerpräparat Dünnschnitt
2 Bruch ] Faserprinarat Film
olwinkelmesser _ — a
erten Licht VY er
Mikroskopische Untersuchungsmethoden
