Prakt. Met. Sonderband 41 (2009) 191
und Eutektika
Geräte haben.
lie sowohl den
‚ern. Weiterhin
ihren.
m Tiegel aus
»inem späteren
n elementaren
grundlegender
llen, dass die
; vorzubeugen.
lurchzufiihren,
len folgenden
Kohlenstoff ‚ Silizium
Bild 2: Riss in einem PtAuS-Tiegel nach Zementaufschlüssen mit C- und Si-Anreicherungen
1800 - ——
1769 cl
isses in einem 1600-4
zelementen als on lim 3
1s, der fiir den 1400
Dberfliche des
© 1200- RK .
den der Probe I % vo N |
Bild 2 zeigen & 1000- oas 0 | Su ep RC
Silizium und ® 830 °C 2a ’
£ 800- 134 El ce
„Sl 6050 |
ionen in einer = 800 q @, ip
7 7 Bl
2 Anwesenheit | 58, Ze
; Silizium von 400- 4
rde. f 1280 ..
Eutektika. Es 2004 % A
Schmelzen bei 0 AEE : _ _ — —
rauf hin, dass 0 20 40 80 J 100
oder Quarzgut Pt Atom-% Si Si
Bild 3: Zustandsdiagramm des Systems Pt-Si [3]
Eine weitere Gefahr sind Abplatzungen von SiC-Heizelementen. Kleine SiC-Partikel, die entweder
an der Seite des Tiegels anhaften oder sich auf den Boden des Ofens angesammelt haben, kénnen
zu der gleichen Wirkung führen. Natürlich wäre es günstig, den Gebrauch von Öfen mit SiC-
Heizelementen zu vermeiden. Da aber solche Öfen leicht verfügbar und relativ preiswert sind,
werden sie in analytischen Labors häufig verwendet. Es ist wichtig, sicherzustellen, dass Platin-
Tiegel in ausreichendem Abstand von den Heizelementen positioniert werden und die Unterlage
nach jedem Aufschlusszyklus von Karbid-Partikeln gereinigt wird.
LE 4 i
80