228 Prakt. Met. Sonderband 41 (2009) 
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Taststrecke [um] - 
Bild 4: Vermessung der Reibspur 
Die Vermessung der Reibspuren im Tastschnittverfahren ergab die in Tabelle 1 aufgeführten Ver- 
schleißfaktoren: 
Tabellel. VerschleiBfaktoren 
Versuchszeit [h] ~~ Verschlei3faktor| Li ] 
5 3,8 * 107 
10 4.9 * 107 
Die mittels ICP-OES ermittelte Si Konzentration im Medium betrug nach 10h Versuchsdauer en 
20mg/l. as! 
wer 
3.2. REM / FIB / TEM oe 
Die Untersuchung der Reibflichen erfolgte mit Raster- und Transmissions-Elektronenmikroskopie 
(REM bzw. TEM). Bild 5 zeigt die Lage der mit fokussierten Ionenstrahlen (FIB) préaparierten 
TEM-Lamelle innerhalb der Reibspur einer EKasic ® F Reibpaarung. Gut zu sehen sind hier die 
tribologisch eingeglitteten Bereiche, sowie die aufgebrachte Pt- Schicht (Bild 5a). Bild 5b zeigt 
eine Ubersichtsaufnahme der priaparierten TEM Lamelle. 
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Bild 5: a) Lage der FIB Präparation EKasic ® F b) TEM Überblick 7 
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