66 Prakt. Met. Sonderband 41 (2009)
Probenmate
Bild (Abb.
Ebenheiten
verschieder
Abb. 3: Exemplarische Schliffqualität nach der Präparation durch die Teilnehmer (links)
Abb. 4: Kleine Punkte unbekannter Herkunft auf den Oberflächen neben den nichtmetallischen Einschlüssen (rechts) Abb. 6: Veral
3.2.3. Ebenheit 2
Nach der qualitativen Schliffbeurteilung wurde mit dem Weilichtinterferometer FRT Microprof N
die Ebenheit bestimmt. Dabei wurde über den Schliff in X- und Y-Richtung die maximale 4
Höhendifferenz ermittelt. Bezugspunkt war dabei der Übergang Probe/ Harz. Die Ergebnisse der E12
Ebenheitsmessung in X-Richtung sind in Abb. 5 dargestellt. Bereits hier fällt die hohe Streubreite ® 10
der Werte von 1...18um maximal auf. Das bedeutet, die Proben sind bei hohen Werten sehr stark %
abgerundet. Damit wird es schwierig, bei einer Vergrößerung ab 100fach aufwärts eine einheitliche
Schärfe der abgerasterten Oberfläche zu erhalten, ohne den Fokus nachjustieren zu müssen, da die
Oberfläche nicht mehr innerhalb der Tiefenschärfe des Objektivs (gestrichelte Linien in Abb. 5)
abgebildet werden kann. Höhere Vergrößerungen sind allerdings bei kleinen und wenigen .
Einschliissen (wie etwa bei hochreinen Stählen) zwingend notwendig.
20 pe nn Abb. 7: Ebenh
18
© 3.2.4. Autor
w 177 10x Obiektiv/ 100fach
=! Die Stahlrei
: 10 empfohlener
Ts zusätzlich +
; -- 20x Objektiv/ 200fach Teilnehmer
Neopren-Tuc
Einzelandruc
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Distanz X über Schliff [mm] Axiolmager..
Adapter, in
Abb. 5: Ebenheit der Proben in X-Richtung (größte Probenausdehnung= lange Probenachse) motorisierten
Digitalauflös
In der Analyse der Methoden wurde nun versucht, Schwachstellen, die eine stärkere Abrundung erreichte Dis
bedingen, durch geeignete Maßnahmen zu kompensieren. Nach Sichtung der Ergebnisse wurde nun wurde eine F
eine allgemeine Präparationsempfehlung erstellt (Abb. 6). Diese Empfehlung wurde dann von den Die Bildauft
Teilnehmern mit den jeweiligen Geräten und dem entsprechenden Verbrauchsmaterial am gleichen Modul NMI
