Prakt. Met. Sonderband 41 (2009) 73 
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iner nativen Bild 7: Querschliff, Hellfeld, Auflicht Bild 8: Querschliff, polarisiertes Licht, Auflicht 
1 (Abrio IM™ Olympus PMG 3 Olympus PMG 3 
3ild 5 und 6). 
Wie die Untersuchung des Querschliffes im Hellfeld (Bild 7) beweist, liegen die Kristalle 
eingebettet zwischen einzelnen Schichten der organischen Matrix vor. Bei der unpriparierten Probe 
im polarisierten Licht (Bild 2 und 4) liegt der Mehrwert der Polarisation im erhöhten Kontrast der 
Kristalle im Vergleich zur organischen Matrix. Hingegen liegt bei eingebetteten Auflichtproben der 
Vorteil der Polarisation darin, mit Einbettungsmittel gefüllte Hohlräume (Bild 7 und 8, Pfeil A) 
deutlich von den eingelagerten Kristallen (Pfeil B) zu unterscheiden. Darüber hinaus lassen sich 
freigelegte Kristalloberflächen identifizieren, die sich für ortsaufgelöste Elementanalysen eignen. 
Während mittels EDX (Bild 9) das Element Calcium eindeutig in den Einlagerungen nachgewiesen 
werden konnte, so ist es anhand weiterer REM - Untersuchungen möglich, die Grenzfläche 
zwischen Kristall und organischer Matrix näher zu charakterisieren (Bild 10). 
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Bild 9: EDX - Spektrum Bild 10: Querschnitt des polierten Calciumoxalatkristalls 
Im REM 
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der steiferen 
Auch die Einbetten:  Vakuumimprignieren mit dinnfliissigem Epoxydharz um Porenbildung zu vermeiden 
lärung dieser Schleifen: Siliziumcarbid (30um, 15um) 
Hier hat sich Polieren: 6,3, 1, 1/4 um Diamant 
rwiesen. Nur Kontrastieren: Auflichtmikroskopie im Hellfeld und polarisierten Licht; REM 
» Position der