Die einzelnen orthorhombischen Kristalle der 2223-Phase lassen sich damit durch ihre mehr Als L 
oder weniger groBen Orientierungsunterschiede gut abbilden. Die Kristalle wachsen bevorzugt in des | 
der kristallographischen a/b Ebene und liegen daher im allgemeinen plattenférmig vor. Im schw 
metallographischen Schliff entspricht deshalb die kurze Dimension der Kristallite der c-Richtung. Mögl 
gesu 
Durch zusätzliche Verwendung eines Lambda--Filters ergibt sich ein deutlicher Farbkontrast, der und/c 
die Aussagemaglichkeiten weiter erhoht. Kristalle mit unterschiedlicher Orientierung werden in Frem 
verschiedenen Farben abgebildet. In Ergänzung zu rontgenographischen Texturbestimmungen 
[1], bei denen die Orientierung statistisch über das gesamte Meßvolumen erfaßt wird, ist es 
somit möglich, eine örtliche Zuordnung desorientierter Kristalle zu treffen und dadurch den 
Informationsgehalt zu vergrößern. 
6. Ergebnisse 
Ein besonderes Problem bei der Herstellung von Supraleitern stellt die Reproduzierbarkeit hoher 
kritischer Stromdichten, insbesondere in langen Bandern, dar. Die Gefligeuntersuchungen haben 
gezeigt, welche Defekte Ursache dafür sein können. 
-Fremdphasen 
An relativ vielen Stellen werden grobe Fremdphasenteilchen beobachtet [Abb. 3]. 
Der E 
bei d 
deutli 
wurde 
7 808 
Abb. 3 Längsschliff durch einen 2223/Ag-Verbundleiter -Feh 
- Fremdphasenteilchen in der 2223-Matrix Häufi 
sind L 
Probe 
Sie wurden durch ESMA-Messungen identifiziert. Es handelt sich vorwiegend um Cuprate nahe, 
[(Cag,33Sr0.66)2Cu03, (Cag.5Srg,5)3Cu50g], Plumbate [(CaSr)>(PbBi)O4], CuO sowie nicht der zı 
umgesetzte Reste der Ausgangsstoffe [SrCO3, CaCOg3]. Diese Ausscheidungen führen zu einer Fremt 
örtlichen Verringerung des supraleitenden Querschnittes und tragen außerdem zur Störung der Krista 
Textur bei, Häufi 
Strom 
196 Prakt. Met. Sonderbd. 26 (1995)