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ung Guinier- Röntgenaufnahmen durchgeführt. Diese zeigt für den ersten Kristall (Ek1) ß-NisGe mit a= 
ach 3.5714(4) und die drei stärksten Reflexe von Graphit. Die Pulverdiffraktogramme des zweiten 
Kristalls (Ek2) zeigen keine Reflexe zusätzlich zu- B-NizGe. Die Gitterparameter sind innerhalb der 
Fehlergrenzen identisch a= 3.5709(4). Rückstrahl- Laueaufnahmen von Ek2 Mitte zeigen 
hauptsächlich (100) Orientierung. 
\hlt, 
eise 
ırde 3. Mikroskopie: 
und Alle Aufnahmen wurden mit einem Auflichtmikroskop der Fa. Olympus, dessen Objektive zusätzlich 
3ser mit Nomarski Prismen ausgestattet sind, gemacht. Das doppelbrechende Prisma ist so im 
»gel Strahlengang positioniert, daß es der Lichtstrahl zweimal passiert. Zunächst trifft der einfallende 
der Lichtstrahl auf das Prisma, das ihn in zwei divergierende Lichtstrahlen aufspaltet. Diese beiden 
divergierenden Lichstrahlen treffen nun auf die Probenoberfläche, werden reflektiert und passieren 
das Prisma ein zweites Mal, wodurch sie wieder zusammengeführt werden. Die daraus resultierende 
Interferenz führt zu einem Bildkontrast, d.h. es können minimale Höhenunterschiede der polierten 
Probenoberfläche sichtbar gemacht werden. Jene Regionen der Probe mit höheren Weg gegenüber 
der Referenzrichtung erscheinen dünkler, jene mit kürzeren Weg heller. Der Bildkontrast ist umso 
stärker, je größer der Gradient der Wegdifferenz ist. 
Das Schliffbild des B-NizGe Ek1 unten (Abb.2), quer zur Ziehrichtung geschnitten und poliert, zeigt 
den ß-NizGe Matrixkristall, polyorientiert mit großen nadelförmigen Graphitausscheidungen, die 
durch Guinier Röntgenaufnahmen nachgewiesen werden konnten. 
Abb.2: ß-Ni3Ge Ek1 unten (Vergrößerung: 50 fach) 
Der Grund für diese Graphitausscheidungen liegt darin, daß die Kohlenstoff- Löslichkeit mit 
iner fallender Temperatur abnimmt. Abbildung 3 zeigt den Verlauf der Gitterparameter von ß-NisGe,das 
tet, bei mehreren Temperaturen mit Kohlenstoff equilibriert wurde. 
och 
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