302
nm wurde die für die quantitative Elementanalyse erforderliche Ortsauflösung erreicht. Die Anteile 1
wurden für die Elemente Kohlenstoff und Stickstoff qualitativ, für die weiteren Elemente im C
standardlosen Verfahren quantitativ bestimmt und als Atomprozent oder als stöchiometrische :
Zusammensetzung angegeben.
Ergebnisse
Die REM-Querschliffaufnahme in Bild 1 zeigt den Übergangsbereich zwischen Lot und SiC- E
Keramik. Im oberen Teil ist das eutektische Gefüge der Lötnaht abgebildet. Deren zwei Hauptpha-
sen enthalten jeweils Silber und Kupfer im Verhältnis von ca. 90:10 und ca. 5:95 in At.-%. Im
Gegensatz zur Lötnaht ist der Aufbau der Übergangszone Lot / Keramik vom eingesetzten
Keramikmaterial abhängig. Im Fall der Al‚O3-Keramik ist die Übergangszone nur teilweise ausge-
bildet und zeigt einen inhomogenen Aufbau mit einer maximalen Dicke von 1 um. Dagegen werden
bei Einsatz der SiC- und der Si3N;-Keramik kompakte Übergangszonen mit Dicken von ca. 4 um
bzw. 2 um gebildet. Besonders am Beispiel der SiC-Keramik wird der mehrschichtige Aufbau der
Übergangszone deutlich (Bild 1). Die zugehörigen EDXS-Elementverteilungen bestätigen das
Vorhandensein mehrerer Reaktionsschichten. Besonders hervorzuheben ist das Vorkommen der
Elemente Fe, Co und Ni des Stahls. Gemeinsam mit Si sind sie sowohl in der lotseitigen als auch in
der keramikseitigen Reaktionsschicht enthalten. Titan ist in einer Zwischenschicht - vermutlich TiC
- und in der lotseitigen Reaktionsschicht nachweisbar. Die keramikseitige Reaktionsschicht (ohne
Ti-Anteil !) ist inhomogen aufgebaut.
fi
Bild 1: REM-Querschliffaufnahme und zugehörige EDXS-Elementverteilungen Mu
am Übergang Lot / SiC-Keramik WW
?