Prakt. Met. Sonderband 30 (1999) 161 
Abb. 8: Räumliche Darstellung eines markanten Strahlteilcheneindruckes durch stereoskoptische Auswertung von 
zwei mit unterschiedlichen Kippwinkeln aufgenommenen REM-Bildern 
undef wer- Auswertung der fokusierten Bereiche im Auflichtmikroskop 
"sem, da der Die geringe Tiefenschirfe bei starker VergroBerung im Lichtmikroskop kann zur Bestimmung der 
nde Form der Rauhtiefen ausgeniitzt werden. Durch das schrittweise Verstellen des Objektabstands mit dem ska- 
erflächenfeh- lierten Feintrieb kann das Höhenschichtprofil der Oberfläche ermittelt werden (Abb. 9). 
if die Metal: 
fg und klein 
talloberfläche 
Überschwing 5 
Abb. 9: Tiefenschärfebereiche im Auflichtmikroskop bei ca. 1000facher Vergrößerung 
x stereoskOpt Die fokusierten Bereiche können entweder graphisch oder elektronisch durch automatische Bild- 
5 TOO analyse ausgewertet werden. In Abb. 10 ist das Höhenschichtprofil des Kugeleindrucks zu sehen. 
x wurden, ‘ Der Vergleich mit den stereoskopisch ausgewerteten elektronenoptischen Bildern zeigt, daß die 
Verh lichtoptische Auswertung der elektronenoptischen durchaus ebenbiirtig ist. 
Oberfläche Darstellung des Oberflächenprofils im randscharfen Schliff 
Mit den bisher beschriebenen zerstörungsfreien optischen und mechanischen Verfahren können 
ch Abs enge Vertiefungen und Risse weder richtig dargestellt noch gemessen werden. Dies gilt besonders 
hen Kontra für verdeckte Oberflächenfehler, wie Überlappungen oder eingedrückte Bruchstücke von Strahlteil- 
m finden WS chen, die in kugelgestrahlten Oberflächen häufig auftreten /5/.