162 Prakt. Met. Sonderband 30 (1999) 
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Abb. 10: Lichtoptisch ermitteltes Héhenschichtlinienbild E- . 
Diese Fehler kénnen nur in randscharfen Schliffen richtig dargestellt werden. Dabei muß jedoch das a 
Zerschneiden der Proben in Kauf genommen werden. ai 
Um das Abrunden der Kanten beim Schleifen und Polieren zu vermeiden, muß die Probe in einen 
Werkstoff von ungefähr gleicher Härte eingebettet werden. Dies geschieht am einfachsten durch a. 
galvanisches Beschichten mit Nickel oder Kupfer. Das Oberflächenprofil kann bei verschiedenen 
Vergrößerungen licht- oder elektronenoptisch untersucht werden. Es können sowohl die Struktur 
der Oberfläche bei relativ geringen Vergrößerungen als auch Form und Größe einzelner Oberflä- 
chenfehler bei stärkerer Vergrößerung gemessen werden. Abb. 11 zeigt typische Beispiele für Ober- 
flächenfehler, die mit keinem anderen Verfahren darstellbar sind. 
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Abb. 11: Darstellung des Profils von verdeckten Oberflächenfehlern im randscharfen Schliff ti 
Zusammenfassung 
Als lichtoptisches Verfahren zur Darstellung rauher Oberflächen wird üblicherweise nur das Ste- 
reomikroskop bei bis zu 50facher Vergrößerung eingesetzt. Es konnte jedoch gezeigt werden, daß 
durch schräges Beleuchten die Struktur der Oberfläche auch im Auflichtmikroskop bei höheren 
Vergrößerungen untersucht werden kann. Gleichzeitig kann die geringe Tiefenschärfe bei starker