Full text: Fortschritte in der Metallographie

308 Prakt. Met. Sonderband 30 (1999) 
Eigenspannungsermittlung möglich ist. Untersuchungnen an Sendust-Schichten unterschiedlicher 
Schichtaufbauten zeigten, daß es das BEMI erlaubt, strukturelle Unterschiede, welche sich aufgrund 
unterschiedlicher Zwischenschichten wie z. B: SiO,- bzw. Cr-Schichten ergeben, nachzuweisen. 
Ausblick 
Zukiinftige Anwendungsfelder der entwickelten Barkhausenrausch-Mikroskopie sind neben der 
Werkstoffentwicklung, die Magnetspeicher- und Mikrosystemtechnik sowie die Magnetoelektronik. 
Das Thema der Magnetoelektronik ist von herausragender Aktualität und Relevanz im Sinne der 
Technologie-Früherkennung. Die Magnetoelektronik, welche die Magnetowiderstandseffekte nutzt, 
hat ein hohes Anwendungspotential bei der Entwicklung von Bausteinen in der Datenspeicherung. 
Der kürzlich entdeckte GMR-Effekt (giant-magnetic resistors) führte 1996 zur Entwicklung erster 
GMR-Sensoren. Gerade bei der Weiterentwicklung von GMR-Schichtsystemen kann das BEMI 
einen wichtigen Beitrag leisten. 
Literatur 
(1) Theiner, W.; Altpeter, I.: Spannungsmessung mit magnetischen Effekten, Handbuch für 
experimentelle Spannungsanalyse, VDI-Verlag, Düsseldorf, 1989 
(2) Theiner, W.; Altpeter, I.: DE Patent No. 4235387, 21. Okt. 1992 
(3) Bender, J.: Barkhausen Noise and Eddy Current Microscopy (BEMI), Microscope Con- 
figuration, Probes and Imaging Characteristics. Progress of Quantitative Nondestructive 
Evaluation, D.O. Thompson and D. E. Chimenti (eds.), Vol. 16B, 1997 
(4) Altpeter, L.; Bender, J.; Hoffmann, J.; Kopp, M.; Rouget, D.; Schreiber, J.: 
Barkhausenrausch- und Wirbelstrommikroskopie zur Werkstoffcharakterisierung und Eigen- 
spannungsmessung im um-Bereich. DGZ{P-Jahrestagung, Dresden, 1996 
(5) Altpeter, I.; Hoffmann, J.; Nichtl-Pecher, W.: 
Detection of Residual Stresses and Nodular Growth in Ferromagnetic Layers with Barkhausen 
and Acoustic Microscopy. Eighth International Symposium on Nondestructive Characterization 
of Materials, Boulder, USA, 1997 
(6) Hoffmann, J.: Charakterisierung ferromagnetisch diinner Schichten mittels elektromagnetischer 
Priifverfahren, Diplomarbeit, Universitit des Saarlandes, 1998 
(7) Nichtl-Pecher, W.: AbschluBSbericht der Firma Exabyte Magnetics GmbH zum BMBF- 
Vorhaben ,,Charakterisierung von Struktur und Eigenschaften ferromagnetischer Schichten als 
Voraussetzung fiir die Optimierung und Weiterentwicklung von Systemen zur 
Datenaufzeichnung®. Niirnberg, 1998 
(8) Altpeter, I; Bender, J.; Hoffmann, J.; Kopp, M.; Rouget, D.: Abschlubericht des Fraunhofer- 
Instituts für zerstörungsfreie Prüfverfahren IZFP zum BMBF- Vorhaben „Charakterisierung von 
Struktur und Eigenschaften ferromagnetischer Schichten als Voraussetzung für die 
Optimierung und Weiterentwicklung von Systemen zur Datenaufzeichnung“, Saarbrücken, 
1998
	        
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