308 Prakt. Met. Sonderband 30 (1999)
Eigenspannungsermittlung möglich ist. Untersuchungnen an Sendust-Schichten unterschiedlicher
Schichtaufbauten zeigten, daß es das BEMI erlaubt, strukturelle Unterschiede, welche sich aufgrund
unterschiedlicher Zwischenschichten wie z. B: SiO,- bzw. Cr-Schichten ergeben, nachzuweisen.
Ausblick
Zukiinftige Anwendungsfelder der entwickelten Barkhausenrausch-Mikroskopie sind neben der
Werkstoffentwicklung, die Magnetspeicher- und Mikrosystemtechnik sowie die Magnetoelektronik.
Das Thema der Magnetoelektronik ist von herausragender Aktualität und Relevanz im Sinne der
Technologie-Früherkennung. Die Magnetoelektronik, welche die Magnetowiderstandseffekte nutzt,
hat ein hohes Anwendungspotential bei der Entwicklung von Bausteinen in der Datenspeicherung.
Der kürzlich entdeckte GMR-Effekt (giant-magnetic resistors) führte 1996 zur Entwicklung erster
GMR-Sensoren. Gerade bei der Weiterentwicklung von GMR-Schichtsystemen kann das BEMI
einen wichtigen Beitrag leisten.
Literatur
(1) Theiner, W.; Altpeter, I.: Spannungsmessung mit magnetischen Effekten, Handbuch für
experimentelle Spannungsanalyse, VDI-Verlag, Düsseldorf, 1989
(2) Theiner, W.; Altpeter, I.: DE Patent No. 4235387, 21. Okt. 1992
(3) Bender, J.: Barkhausen Noise and Eddy Current Microscopy (BEMI), Microscope Con-
figuration, Probes and Imaging Characteristics. Progress of Quantitative Nondestructive
Evaluation, D.O. Thompson and D. E. Chimenti (eds.), Vol. 16B, 1997
(4) Altpeter, L.; Bender, J.; Hoffmann, J.; Kopp, M.; Rouget, D.; Schreiber, J.:
Barkhausenrausch- und Wirbelstrommikroskopie zur Werkstoffcharakterisierung und Eigen-
spannungsmessung im um-Bereich. DGZ{P-Jahrestagung, Dresden, 1996
(5) Altpeter, I.; Hoffmann, J.; Nichtl-Pecher, W.:
Detection of Residual Stresses and Nodular Growth in Ferromagnetic Layers with Barkhausen
and Acoustic Microscopy. Eighth International Symposium on Nondestructive Characterization
of Materials, Boulder, USA, 1997
(6) Hoffmann, J.: Charakterisierung ferromagnetisch diinner Schichten mittels elektromagnetischer
Priifverfahren, Diplomarbeit, Universitit des Saarlandes, 1998
(7) Nichtl-Pecher, W.: AbschluBSbericht der Firma Exabyte Magnetics GmbH zum BMBF-
Vorhaben ,,Charakterisierung von Struktur und Eigenschaften ferromagnetischer Schichten als
Voraussetzung fiir die Optimierung und Weiterentwicklung von Systemen zur
Datenaufzeichnung®. Niirnberg, 1998
(8) Altpeter, I; Bender, J.; Hoffmann, J.; Kopp, M.; Rouget, D.: Abschlubericht des Fraunhofer-
Instituts für zerstörungsfreie Prüfverfahren IZFP zum BMBF- Vorhaben „Charakterisierung von
Struktur und Eigenschaften ferromagnetischer Schichten als Voraussetzung für die
Optimierung und Weiterentwicklung von Systemen zur Datenaufzeichnung“, Saarbrücken,
1998