| Probenmaterial | Untersuchungs ziel Priiparation _. _Untersuchungsmethode | Zusatzgeriite Funda® 
Kompaktes Gefiigebewertung Anschliff Auflicht Mikrohirte, Microm 
| Metall Art, Größe, Verteilung | Hell- und Dunkelfeld Temperierungseinrichtuy : rin 
Beschichtungs- Anschliff Auflicht Zubehör für mikroskopisc Expe 
untersuchung _+ _Hell- und Dunkelfeld Messen und Zählen m 
Gesintertes Porenvolumen Anschliff Auflicht Digitale Bildauswertung „AV 
Metall nn oo _i__Hell- und Dunkelfeld ~~ _ 
Gesinterte Gefiigebestandteile Messende Messkompensatoren 
Keramik Art, Größe, Verteilung Dünnschliff Polarisationsmikroskopie Universaldrehtisch 
a Einrichtung für Konosko 
Gesinterte Gefügebestandteile Anschliff mit Auflicht Zubehör für mikroskopisc 
Keramik Größe, Verteilung Fluorochromen Hell- und Dunkelfeld Messen und Zählen, N 
a Porenvolumen ‚markiert _ Auflicht - Fluoreszenz - __ Fluoreszenzeinrichtung on 
Amorphe FlieBniihte | Totalpriiparat Durchstrahlung im Grofipolarisatoren, zB . & 
Kunststoffe + _Diinnschliff polarisierten Licht  __ spannungsoptische Ban]  y 
Messung der Totalpriparat Messende Messkompensatoren, research! 
Anisotropie Dickschliff Polarisationsmikroskopie Universaldrehtisch, op 
Diinnschliff Einrichtung fiir Konoska "7 
Diinnschnitt, Messende Messkompensatoren, Uniy resolutio 
Teilkristalline Gefügebestandteile Dünnschliff, Polarisationsmikroskopie saldrehtisch, Einrichtung 
Kunststoffe Art, Größe, Verteilung geätzter Anschliff Brechzahlmessung Konoskopie, Heiztisch, 
Immersionsfliissigkeiter 
Auflicht und Zubehör für mikroskopisc “ 
Gefüllte Gefügebestandteile Anschliff, Durchlichtmikroskopie, Messen, digitale cL 
Kunststoffe Art, Größe, Verteilung Diinnschliff messende Bildauswertung Einrichtur' The cc 
. Polarisationsmikroskopie zur Brechzahlmessung SS 
Tabelle 3: Methoden der Materialographie NEN 
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