From SEM Cross-Section to TEM Sample - New Capabilities of 
FIB Sample Preparation by Refill-Technique 
Vom REM-Querschnitt zur TEM-Probe - Neue Möglichkeiten 
der FIB-Probenpräperation mittels "Refill"-Technik 
H.-J. Engelmann, B. Volkmann, E. Zschech, AMD Saxony 
Manufacturing GmbH, Dresden (D) 
Quantitative Characterisation of Waspaloy Microstructure 
Using Various Microscopic Techniques 
Quantitative Charakterisierung des Waspaloy-Gefiiges mit 
verschiedenen mikroskopischen Techniken 
J. Wosik, B. Dubiel, A. Czyrska-Filemonowicz, University of 
Mining and Metallurgy, Krakow (PL); H.J. Penkalla, K. Szot, 
F. Schubert, Forschungszentrum Jiilich (D) 
Combination of Atomic Force Microscopy and Electron 
Microscopy for Quantitative Characterisations of Precipitate 
Distributions 
Kombination von Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Elekironen- 
mikroskopie (TEM, REM) zur quantitativen Charakterisierung 
von Ausscheidungsverteilungen 
M. Göken, K. Durst, H. Vehoff, Universität des Saarlandes, 
Saarbrücken (D) 
Requirements for a Microscope in Materialography 
Anforderungen an ein ausbaufihiges Mikroskop für die 
Materialographie 
J. Trempler, Martin-Luther-Universitét Halle-Wittenberg, 
Merseburg (D) 
Residual Stress Measurement in the Micrometer Range 
with Barkhausen Noise- and Eddy Current Microscopy 
Eigenspannungsmessung im Mikrometerbereich mit Hilfe 
der Barkhausenrausch- und Wirbelstrommikroskopie 
I. Altpeter, S. Kühn, M. Kopp, W. Arnold, M. Kréning, 
Fraunhofer-Institut fir zerstörungsfreie Prüfverfahren, 
Saarbriicken (D); M. Zehetbauer, Universitit Wien (A) 
Atomic Force Microscopy Study of a Ru-Al Eutectic 
Rasterkrafimikroskopische Untersuchungen von eutektischem 
Ru A 
N. llic, M. Géken, M. Kempf, K. Durst, F. Soldera, 
N. Manent Conesa, F. Miicklich, Universitit des Saarlandes, 
Saarbriicken (D) 
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