RV3 — Ferritisch-perlitischer Stahl
Hier wurden Proben aus einer Charge eines gewalzten ferritisch-perlitischen Stahls untersucht. Alle
C geritchedipge Proben wurden im Labor des Initiators einheitlich pripariert, gedtzt und gemessen. Es sollte der
Wve Perlitgehalt und die Grenzflichendichte von Perlitkolonien und Ferritkdmern bestimmt werden,
Tou iggy ferner war mittels Linearanalyse die mittlere lineare Größe und die GroBenverteilung der
© ifighet go Ferritkörner und der Perlitkolonien lings und quer zur Walzrichtung zu bestimmen. Zuerst sollte ein
© Würden m elektronisch gespeichertes Testbild (Fig. 2 links) ausgewertet werden, dann war auf einer der
Nerbarkeit und die sternförmig verteilten Proben an vorgeschriebener Stelle eine Messung mit etwa 20 Meßfeldern
durchzuführen.
N Abweichungen
Teilnehmer, wurde 35 CIVv Perl © 800
Gleichmigioke: © Sv Perlit !
, i, * 30 4 Sv Ferrit I 600 8
+ Vergrößerung so - 7
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mierbarkeit > 20 AE , oo 200 =
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Teilnehmer
Fig. 2: RV ferritisch-perlitischer-Stahl ; Beispielbild des Gefliges (links) und Mefergebnisse am
Testbild (rechts)
Die richtige Erkennung kleinerer Perlitgebiete sowie besonders die Rekonstruktion nicht vollständig
3 erkannter Ferritkorngrenzen erwies sich schon am Testbild als problematisch (Fig. 2 rechts). In den
Co realen Messungen entsprechen die Perlitkennwerte im Mittelwert von 9 Teilnehmern gut den vorher
+ beim Initiator durchgeführten Kontrollmessungen an allen Proben, jedoch ist die Streuung der RV-
Daten besonders bei der Grenzflächendichte deutlich größer als beim Initiator. Die Kennwerte der
schitchmesser Ferritkörner zeigen erheblich größere Abweichungen, es wurden mittlere lineare Korngröße von 3
bis 7 um gefunden. Hier ist der Geräte- und Verfahrenseinfluß auf die Kornerkennung viel zu hoch.
Kan RV4 — AlSi-Gusswerkstoff
we Stchprobe von Im Gefiige dieses Werkstoffs (Fig. 3 links) sollten die Volumenanteile und Grenzflichendichten der
#9000*2000 um? 5 existierenden Phasen bestimmt werden (von hell nach dunkel: AlSi-Matrix, intermetallische
schtmikroskopisch Phase, Si-Eutektikum und Primär-Si-Platten, MgSi-Ausscheidungen). Schwerpunkt war hier eine
‚stebedingt einige sorgfältige Bildreinigung und eine Detektion in mehreren Grauwertintervallen sowie eine
Formtrennung (Rundheit und Größe) für die Trennung von Primär-Si und Si-Eutektikum.
) Gegenüber RV3 wurden hier ein elektronisches Testbild, eine Referenzprobe und eine unbekannte
it niga Probe ringformig verschickt, um den Einfluß der Probennahme zu eliminieren.
= : : Die Messungen von 9 Teilnehmern am Testbild ergaben, daß die Unsicherheiten im Volumenanteil
nicht größer als 3 Vol-% sind, am schlechtesten bei der intermetallischen Phase (Fig.3 rechts). Das
on eit bedeutet jedoch relative Abweichungen bis zu 25 %, fiir die Phasen mit niedrigem Anteil muß der
tte at Messumfang erhoht werden. Bei der Grenzflächendichte ergaben sich größeren Abweichungen, die
a relativen Fehler reichen bis zu 35%. In Anbetracht der sehr komplizierten Teilchenformen und
geringer Kontraste ist dieses Ergebnis jedoch zufriedenstellend.
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