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ws Sime von 120 mJ/cm® mit einem Zweistrahlaufbau belichtet und die mittlere Strukturtiefe der Linien
; on hey bestimmt.
nd i den Mit steigender Pulsanzahl bildet sich aus der anfänglich monomodalen Verteilungskurve, welche
Kr 7 beiden die unbehandelte Probenoberfläche repräsentiert, allmählich eine bimodale Verteilung der
ally Höhenwerte aus. Die Strukturtiefe vergrößert sich und die beiden Maxima entfernen sich mit der
RT Linien- Pulsanzahl mehr und mehr voneinander. Somit kann eine statistisch fundierte Aussage über die sich
) Negt bei 041. mit der Pulsanzahl verstärkenden Topographieänderungen gemacht werden. Die daraus
t Linienstruktur gewonnenen Werte der Strukturtiefe sind in Bild 10 dargestellt.
© Sind, desto
DS
= 04
=
+ 0,3
402
2
£
g 01
$ 120 mJ/cm2
0 8
% id lo 20 23 9
Pulsanzahl
Bild 10: Abhängigkeit der mittleren Strukturtiefe von der Pulsanzahl bei konstanter Energiedichte
4. Schlussfolgerung
Mit Hilfe der Weisslichtinterferometrie konnten periodische Oberflächenstrukturen sowohl
quantitativ (Strukturtiefe, Periodizität) als auch qualitativ (Strukturaussehen, Homogenität)
untersucht werden. Der Histogramm-Plot erlaubt dabei eine statistische Auswertung aller
ermittelten Höhenwerte der induzierten Substrattopographie. Somit ist es möglich, bei
verschiedenen Laserparametereinstellungen (Energiedichte, Pulsanzahl) und
Überlagerungsgeometrien die sich einstellende Tiefe _laserinterferometrisch induzierter
Mikrostrukturen sowie deren Periodizität zu bestimmen. Dadurch können Prozeßparameter
optimiert werden, um Mikrostrukturen definierter Dimensionierung herzustellen und deren
Geometrie zu steuern.
den | Bild 1-9).
Energiedichte
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