Das Gefüge besteht zu ca. 60 % aus der geordneten y‘-Phase mit kuboidaler Morphologie. In dieser 
Phase sind die Elemente Al, Ti und Ta angereichert, während in der y-Matrix neben Nickel die ur 
Elemente Co, Cr und W dominieren. Die mittlere Kantenlänge der y‘-Kuben beträgt ca. 0.5 pm. Die län“ 
oxidbildenden Elemente sind Cr und Al, sowie in geringerem Maße Ti, Ta und W. no 
Da unter anderem die Orientierungsabhingigkeit des Oxidschichtwachstums interessierte, wurden gl 
aus einkristallinen Gussstiicken Proben parallel zu {100}- und {110}-Kristallflichen Dieser £ 
herausgetrennt. Hierzu musste zunächst die kristallographische Orientierung einer Bezugsfläche 
bestimmt werden, was mittels Rückstreuelektronenbeugung (EBSD) im REM erfolgte. Zuvor 
musste die Probenoberfläche elektrolytisch poliert werden, damit überhaupt EBSD-Pattern erhalten 
wurden. Dann wurde die Probe mittels eines Goniometers so gedreht und gekippt, dass die 
gewünschte Kristallorientierung erhalten und mittels EBSD nachgewiesen wurde. Schließlich 
wurde dann nach entsprechender Orientierung der Probe in einem geeigneten zweiten Probenhalter 
ein Trennschnitt parallel zu der gewünschten kristallographischen Ebene durchgeführt. Die so 
erzeugten Proben mit den ungefähren Maßen 20 x 10 x 3 mm?® wurden dann mechanisch poliert und 
rückseitig mit einem Sackloch für die Temperaturmessung mittels Thermoelement versehen. 
Die Glühversuche erfolgten in einem Strahlungsofen bei 980°C mit einer Aufheizzeit < 15 min und 
einer schnellen Abkühlung auf Raumtemperatur in weniger als 10 min. Mit einer 
Korrekturrechnung war es möglich, auch die bereits während der Aufheiz- und Abkühlphase 
ablaufenden Oxidationsprozesse zu beriicksichtigen. 
Nach den Gliihversuchen wurden Querschliffe ,,face to face“ hergestellt. An diesen wurde im REM 
die Oxidschicht mittels energiedispersiver Rontgenmikroanalyse (EDX) charakterisiert und als 
Elementverteilungsbilder dargestellt. Die Schichten wurden auf einer Linge von 1500 pm 
vermessen und mittels eines Rechenprogramms flächenmäßig ausgewertet und in ME 
Schichtdickenmittelwerte umgewertet. Es hat sich herausgestellt, dass, um statistisch signifikante a 
Mittelwerte zu erhalten, mindestens 30 Gesichtsfelder pro Glühzustand bei 2500-facher 
Vergrößerung notwendig waren. 
Ergebnisse und Diskussion 
SG a 
Bild 1: REM-Aufnahme vom Querschliff der gebildeten Oxidschicht 
Bild1 zeigt das Sekundirelektronenbild einer typischen Oxidschicht im ,.face to face® Querschnitt, 
das heißt in der Mitte des Bildes befindet sich die Klebefuge, während oben und unten daran 
anschließend jeweils die Oxidschichten der beiden Probenhälften zu sehen sind. Man erkennt 
jeweils eine Doppelschicht sowie zusätzlichen Elementkontrast in den Einzelschichten. Die Grenze 
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