Full text: Fortschritte in der Metallographie

176 Prakt. Met. Sonderband 38 (2006) 
Zusétzlich wurde der Quotient My/Sy berechnet. Dies hat sich in früheren Arbeiten als TH 
wichtig fur die Klassifizierung erwiesen [6] und beschreibt die mittlere IN 
Oberflachenkrimmung. D-Graphit besitzt einen héheren Wert, bedingt durch haufigere 
Verzweigungen im Lamellengraphitnetzwerk. AL 
Alle diese Parameter bilden eine Basis flr die Charakterisierung unterschiedlicher 
Lamellengraphitanordnungen. Das ist die Ausgangsgrundlage für das quantitative F.L 
Versténdnis der Werkstoffeigenschaften. 
4. ZUSAMMENFASSUNG 
Unterschiedliche Graphittypen in Gusseisen wurden zum ersten Mal mittels FIB- 
Tomographie mit hoher Auflösung (bis zu 0,1 um) analysiert und mit Hilfe der 3D- 
Rekonstruierungs- und Analysesoftware charakterisiert. Quantitative gefügecharakteris- 
tische 3D-Parameter wurden für die Volumenbildern berechnet. Die aus 3D-Aufnahmen 
ermittelten Integrale der mittleren und totalen Krümmungen, sowie die Teilchen- (Ny) und AB 
Eulerzahl (xv) beschreiben die Teilchenform bzw. die Konnektivität unterschiedlicher, 
komplizierter Graphitmorphologien. Die neuen Kenntnisse sind von großer Bedeutung für In t 
die Materialeigenschaften und können als Grundlage für die Simulation des rein 
Materialverhaltens dienen. etch 
the 
DANKSAGUNG sph 
Die Arbeit wurde durch das BMBF-Projekt Nr. 03N3119 finanziert. Die Autoren bedanken a Cc 
sich bei der Halberg Guss GmbH für das Probenmaterial, bei den Mitarbeitern des ITWM con 
Kaiserslautern fur die Hilfe bei der 3D-Gefligecharakterisierung und bei A. Siefers, die im the 
Rahmen des DAAD RISE Programms ihr Praktikum am Lehrstuhl fiir Funktionswerkstoffe obs 
absolviert hat, für die Datenauswertung. She 
r 
LITERATUR imp 
The 
[1] Velichko, A., Mucklich, F., Practical Metallography 43,2006, 192-207 SON 
[2] Sanchez, S.A., Narciso, J., Rodriguez-Reinoso, F., Bernard, D., Watson, 1.G., Lee, BYR 
P.D., Dashwood, R.J., Advanced Engineering Materials, 8, 2006, 491-495 
[3] Holzer, L., Indutnyi, F., Gasser, PH., Miinch, B., Wegmann, M., J. Microsoc. 216, 
2004, 84-95. 
[4] Ohser, J., Mucklich, F.: “Statistical Analysis of Microstructures in Materials Science”, 1.1 
John Wiley & Sons, 2000 
[5] Stets, W., Hartmann, D., Ohser, J., Taeubner, K., Giesserei 91, 2004, 20-30 Alu 
[6] Roberts, K., Weikum, G., Mucklich, F., Practical Metallography, 42, 2005, 396-410 the 
[71 Velichko, A., Holzapfel, C., Miicklich, F., Advanced Engineering Materials (submitted Li 
2006) am 
[8] Magenreuter, T., Velichko, A., Micklich, F., Practical Metallography (submitted 2006) pert 
[9] Ohser, J., Nagel, W., Schladitz, K., Image Anal. Stereol., 22, 2003, 11-19. brit 
[10] Lee, C., Poston, T., Rosenfeld, A., CVGIP: Graph. Models Image Process. 53, 1991, and 
522-537 suff 
[11] Lang, C., Ohser, J., Hilfer, R., J. Microsc., 202, 2001, 1-12 Imp 
[12] Nagel, W., Ohser, J., Pischang, K., J. Microsc., 198, 2000, 54-62 The 
[13] Russ J.C., Dehoff R.: “Practical Stereology”, New York. Kluwer Academic/Plenum Si | 
Publishers. 2000 S4C 
[14] Ohser J.; Sandau K.; Stets W.; Gerber W.: Practical Metallography, 40, 2003, 454- De 
473 0
	        
Waiting...

Note to user

Dear user,

In response to current developments in the web technology used by the Goobi viewer, the software no longer supports your browser.

Please use one of the following browsers to display this page correctly.

Thank you.