Full text: Fortschritte in der Metallographie

196 Prakt. Met. Sonderband 38 (2006) 
2. WERKSTOFFE 4. 
In dieser Arbeit wurden 3 verschiedene Dualphasenstéhle untersucht. Sie variierten in Das 
ihrer chemischen Zusammensetzung, den Warmebehandlungszyklen, sowie 2% 
unterschiedlicher Abkühlung im Coil. Die chemische Zusammensetzung ist aus Tabelle 1 Auf 
zu entnehmen. ui 
Par 
C [wi%] | Si wi% Al [wt%] | Cr + Mo [wi%] | Nb + Ti + V [wi%] | N [wi%] ar 
 DP500 N 
DP600 Teil 
'DP800_ | ~0.14 [-0.15 ~1-2 ~ 0,05 <1.0 < 0.04 — 0,005 Mat 
war 
Tab. 1: Chemische Zusammensetzung der untersuchten DP-Stähle. sie 
unte 
Die drei untersuchten Stahlsorten wurden mit einer Walzendtempertur von ~ 900 °C vers 
warmgewalzt. Als Haspeltemperatur wurde für DP 500 und DP 800 eine tiefe 
Haspeltemperatur verwendet. Fir den DP 600 wurde eine mittlere Haspeltemperatur 
angewendet. Im 
Nach dem Kaltwalzen mit einem Kaltwalzgrad von ~ 65 % wurden alle Bander an einer sick 
Feuerverzinkungsanlage (FVZ) gegliht. Um den Einfluss einer zusätzlichen Wie 
Wärmebehandlung auf das Auflésungsverhalten zu untersuchen wurde das Material von sek 
DP 500 noch bei einer Temperatur von 650 °C gegliht. Grd 
Da die Temperatur — Zeit Geschichte wesentlich von der Position im Warmband abhängt, 200 
wurden Proben aus den Warmbandpositionen Anfang und Mitte untersucht. Aus 
im | 
ebe 
3. UNTERSUCHUNGSMETHODIK 
Die Proben wurden wie oben beschrieben zuerst aus dem Band entnommen (Coilanfang — 
Probe "Anfang" bzw. Coilmitte — Probe "Mitte"). Fiir eine grobe Übersicht über das Gefüge 
wurden lichtmikroskopische Schliffe (polierte Oberflache, Atzung: LePera) angefertigt. Für 
Gefligedetails wurden transmissionselektronenmikroskopische (TEM) Untersuchungen 
durchgeführt. Dazu wurden die Proben mechanisch auf eine Dicke von ca. 100 um 
geschliffen und Plattchen mit 3 mm Durchmesser entnommen. Um weite 
elektronentransparente Bereiche für TEM-Untersuchungen zu bekommen, wurden die 
Plättchen mit einem Struers TenuPol 5.0 elektrolytisch gedünnt. 
Die TEM-Untersuchungen wurden mit einem Philips CM20 STEM mit 
Beschleunigungsspannung 200kV durchgeführt. Als Untersuchungsmethode wurde 
vorwiegend die Transmissionselektronenmikroskopie gewählt, da diese als einzige 
Methode eine direkte Abbildung der Mikrostruktur, die Analyse der chemischen Bap 
Zusammensetzung der Phasen und gleichzeitig Aussagen über den Kristallaufbau 
ermöglicht. Es wurde eine Übersicht über die Mikrostruktur bei geringeren Abt 
VergroRerungen mit Sekundérelektronen (SE) aufgenommen, um eine Aussage über Auf 
Größe und Verteilung der Partikel durchführen zu können. Weiters wurden die Partikel mit Zer 
Hilfe von energiedispersiver Röntgenanalyse (EDX) charakterisiert, um ihre chemische Sch 
Zusammensetzung zu bestimmen. Die Phasenbestimmung erfolgte über 
Elektronenbeugung
	        
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