Prakt. Met. Sonderband 38 (2006) 7 
unerlässlich ist; Unten rechts: Rekonstruktion der aufgeschmolzenen Gefügebereiche 
des Kraters 
) werden Nur durch die beiden Tomographieaufnahmen (unten links und rechts) ist ganz 
bildung, offensichtlich eine wissenschaftliche Erforschung der mikroskopischen Vorgänge der 
ttels FIB Schmelzvorgénge bei der Elektroerosion zugénglich. 
ngen in 
erflache, 
rity Weitere Beispiele: 
ii alvey Die Anwendung von Sekundarelektronenbildern und von EDX-Mappings ist in 
gsachse Lasagni et al. (2006a,b) beschrieben. Hierbei werden eutektische Erstarrungsgefiige 
adienten im System Si-Al beschrieben, die durch Zugaben von Sr in ihrem Mikrogefüge 
nite das beeinflusst werden sollen. Da Al und Si eine ähnliche Ordnungszahl besitzen, erweist 
timmung sich die Zuhilfenahme des EDX-Signals als hilfreich, um eine möglichst optimale 
‚u einem Kontrastierung zu erreichen. Die Strukturen sind insgesamt zu klein, als dass sie mit 
on führt. heute üblichen Röntgenstrahl-Tomographen untersucht werden könnten. Es zeigt 
06) und sich, dass die gezielte Zugabe von Sr eine deutlich faserige Ausprägung des 
sten Mal eutektischen Gefüges erzeugt. Eine ähnliche Vorgehensweise zur Untersuchung von 
mittels Cu-Ag-Eutektika bzw. Korrosionsvorgängen eines mit Ni und Au beschichteten 
Kupfersubstrates wurde in Kotula et al. (2006) gewählt. Hierbei wurde eine 
multivariate statistische Analyse durchgeführt, um eine genauere Analyse zu 
erhalten. 
Die lokale Wechselwirkung von mikrostrukturell kurzen Rissen mit Korngrenzen bzw. 
Ausscheidung in Superlegierungen wird in Holzapfel et al. (2006b) untersucht. Die 
Risse werden mittels FIB-präparierten Risskeimen initiiert und durch zyklische 
Belastung zum Wachsen gebracht (Marx et al. 2006). Aufgrund der 3D Struktur kann 
der wahre Abstand des wachsenden Risses relativ zu einer Korngrenze an der 
Oberfläche nicht immer korrekt abgeschätzt werden. Die FIB-Tomographie kann im 
Fall von Unregelmäßigkeiten im Wachstumsverhalten den wahren Sachverhalt 
aufklären. In Wu et al. (2003) wird die 3D-Struktur von Rissen, die im Rahmen von 
Scratch Tests erzeugt wurden, bestimmt. In dieser Arbeit konnte eine hohe Dichte 
von Mikrorissen nachgewiesen werden. Auch das Deformationsverhalten während 
der Nanoindentation wurde bereits mittels FIB Tomographie von Inkson et al. (2001b) 
untersucht. 
Weitere Anwendungsbeispiele, auch mit Benutzung der 
Sekundärionenmassenspektroskopie bzw. von Auger Elektronen als abbildendes 
Signal werden in dem Monograph von Giannuzzi und Stevie (2005) gegeben. 
Danksagung 
Die Autoren danken Frau Velichko und Herrn Jeanvoine für die Bereitstellung des 
Bildmaterials ihrer Beispielergebnisse. 
ktrischen Literatur 
erometer Giannuzzi, L. A. & Stevie, F. A., Introduction to focused ion beams: instrumentation, 
und des theory, techniques and practice, Springer, New York, 2005 
pe Konrad, J., Zaefferer, S., Raabe, D. (2006), Acta Materialia, 54(5), 1369-1380