Prakt. Met. Sonderband 38 (2006) 415
aration Es kdnnen dann bis zu 6 Coupons auf ein Stiftpaar aufgezogen und gleichzeitig prapariert
werden (Abb. 7).
Die Weiterverarbeitung der Coupons kann auf verschiedenen Wegen erfolgen. Im
vendet, einfachsten Fall verwendet man einen AccuStop (separat oder im Probenhalter), da ja der
ch hier notwendige Gesamtabtrag bekannt ist. Weiterhin gibt es einen Spezialprobehalter mit
an sich Diamantstops, der nach dem gleichen Prinzip wie der AccuStop nur einen voreingestellten
ss das Abtrag zulässt. Damit können bis zu 36 Coupons gleichzeitig geschliffen und poliert
werden (Abb. 8).
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1zipiert Abb. 7: Auffädeln von Coupons Abb. 8: Spezialprobenhalter für 36
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eliebig Bei der Präparation solcher großen Probenmengen ist darauf zu achten, dass der Abtrag
oon ist gleichmäßig und vor allem schnell vollzogen wird. Deshalb wird anfangs mit 2 Stufen
| von Schleifpapier (Vorteil: hohe Anfangsabtragsrate) gearbeitet, wobei die Planheit der Proben
erst mit einem Feinschleifschritt und abschließendem Polieren auf einer harten Unterlage
und Diamantsuspension erreicht werden kann. Schleifpapier allein würde die Proben
verrunden, wobei die Zielebene nicht mehr getroffen wird. Da mit dem Schleifen auf
Diamant auch die Diamantstops selber einem Abtrag unterliegen, müssen diese Zeiten so
kurz wie möglich gehalten werden, um Ungenauigkeiten zu vermeiden. Das
abschließende Polieren wird ohne Einwirkung der Stopbits durchgeführt, da hier die
Abtragsraten sehr niedrig sind, was sich nicht negativ auf die Endgenauigkeit auswirkt.
2.3.2. Target-System
Die höchste Stufe der materialografischen Zielpräparation stellt das Target-System (Abb. 9)
dar. Dieses System besteht aus einer Schleif- und Polierstation, in der halbautomatisch
die einzelnen Präparationsschritte abgearbeitet werden. Nach jedem Präparationsschritt
wird der wahre Abtragswert mittels Lasermesssystem mit einer Genauigkeit von +5um
bestimmt und mit dem vorgegebenen Abtragswert verglichen. Während des
Planschleifens erfolgt zusätzlich eine Online-Messung mit einem potentiometrischen
pons Messsystem. Fir die Festlegung der Zielebene dienen eine optische Messstation (TargetZ)
für sichtbare oder eine Set-up-Station fiir eine Rontgenzelle (TargetX) bei nicht sichtbaren
bzw. verdeckten Zielen. Es kann in verschiedenen Modi gearbeitet werden (Abtrag, Ziel,
Zeit. auch in Kombination untereinander), so dass ausgehend von der