Full text: Fortschritte in der Metallographie

Prakt. Met. Sonderband 38 (2006) 415 
aration Es kdnnen dann bis zu 6 Coupons auf ein Stiftpaar aufgezogen und gleichzeitig prapariert 
werden (Abb. 7). 
Die Weiterverarbeitung der Coupons kann auf verschiedenen Wegen erfolgen. Im 
vendet, einfachsten Fall verwendet man einen AccuStop (separat oder im Probenhalter), da ja der 
ch hier notwendige Gesamtabtrag bekannt ist. Weiterhin gibt es einen Spezialprobehalter mit 
an sich Diamantstops, der nach dem gleichen Prinzip wie der AccuStop nur einen voreingestellten 
ss das Abtrag zulässt. Damit können bis zu 36 Coupons gleichzeitig geschliffen und poliert 
werden (Abb. 8). 
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1zipiert Abb. 7: Auffädeln von Coupons Abb. 8: Spezialprobenhalter für 36 
on von Coupons 
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eliebig Bei der Präparation solcher großen Probenmengen ist darauf zu achten, dass der Abtrag 
oon ist gleichmäßig und vor allem schnell vollzogen wird. Deshalb wird anfangs mit 2 Stufen 
| von Schleifpapier (Vorteil: hohe Anfangsabtragsrate) gearbeitet, wobei die Planheit der Proben 
erst mit einem Feinschleifschritt und abschließendem Polieren auf einer harten Unterlage 
und Diamantsuspension erreicht werden kann. Schleifpapier allein würde die Proben 
verrunden, wobei die Zielebene nicht mehr getroffen wird. Da mit dem Schleifen auf 
Diamant auch die Diamantstops selber einem Abtrag unterliegen, müssen diese Zeiten so 
kurz wie möglich gehalten werden, um Ungenauigkeiten zu vermeiden. Das 
abschließende Polieren wird ohne Einwirkung der Stopbits durchgeführt, da hier die 
Abtragsraten sehr niedrig sind, was sich nicht negativ auf die Endgenauigkeit auswirkt. 
2.3.2. Target-System 
Die höchste Stufe der materialografischen Zielpräparation stellt das Target-System (Abb. 9) 
dar. Dieses System besteht aus einer Schleif- und Polierstation, in der halbautomatisch 
die einzelnen Präparationsschritte abgearbeitet werden. Nach jedem Präparationsschritt 
wird der wahre Abtragswert mittels Lasermesssystem mit einer Genauigkeit von +5um 
bestimmt und mit dem vorgegebenen Abtragswert verglichen. Während des 
Planschleifens erfolgt zusätzlich eine Online-Messung mit einem potentiometrischen 
pons Messsystem. Fir die Festlegung der Zielebene dienen eine optische Messstation (TargetZ) 
für sichtbare oder eine Set-up-Station fiir eine Rontgenzelle (TargetX) bei nicht sichtbaren 
bzw. verdeckten Zielen. Es kann in verschiedenen Modi gearbeitet werden (Abtrag, Ziel, 
Zeit. auch in Kombination untereinander), so dass ausgehend von der
	        
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