466 Prakt. Met. Sonderband 38 (2006) 
Im Falle eines fortgeschrittenen ZnFe-Legierungsprozesses bildet sich eine ausgeprägte 
['1-Phase neben einer kompakten 8-Phase (Bild 3). 
0502404582 1000: 105% HNU 
a) senkrechter Anschliff b) Oberflachenausbildung 
Bild 3: Stark legierter ZnFe-Uberzug mit ca. 2 bis 3 um dicker I'1-Phase sowie 
kompakter 3-Phase 
3.3 Rasterelektronenmikroskopie 
Die Lichtmikroskopie ist mit einer minimalen Auflésung von 0,5 um bei 1000-facher 
Vergrößerung nicht in der Lage, präzise Informationen über die Kristallisation der ZnFe- 
Überzugsoberfläche zu geben. Hierfür wird die Rasterelektronenmikroskopie (REM) 
genutzt. Das Werkstoffkompetenzzentrum von ThyssenKrupp Steel hält für diese 
Aufgabenstellung neben einem konventionellen REM (Gerätetyp: VEGA XMU von Tescan) 
auch ein hoch auflösendes FE-REM (Gerätetyp: LEO 1530 von C. ZEISS) bereit. 
_a) konventionelles REM b) hochauflösendes FE-REM 
Bild 4: Vergleichende Darstellung von Sténgelkristallen an der ZnFe-Uberzugsober- 
fläche mittels verschiedener REM-Techniken