Prakt. Met. Sonderband 38 (2006) 467
jepragte Die REM-Untersuchung von Galvannealed mit Stangelkristallen an der ZnFe-Uberzugs-
oberflache zeigt, dass durch die höhere Auflösung bei geringer Beschleunigungsspannung
im FE-REM die Morphologie der Stängelkristalloberfläche wesentlich deutlicher abgebildet
werden kann (Bild 4). Die folgenden mittels FE-REM erzeugten Aufnahmen von ZnFe-
Überzügen mit unterschiedlichem Legierungsgrad ermöglichen aufgrund der im Vergleich
zur Lichtmikroskopie höheren Auflösung detaillierte Informationen über die Kristallaus-
bildung der intermetallischen ZnFe-Phasen.
0310A05010 5000:1 0,5% HNO3 J
Co J310A04496 10000: a
O-facher a) senkrechter Anschliff b) Oberflachenausbildung
r ZnFe- .
(REM) Bild 5: Unvollstandig legierter ZnFe-Uberzug mit Sténgelkristallen der {-Phase
r diese
Tescan)
0310A05449 5000: 1 0,5% HNO3 —b um
A... 0310404505 1000 Zum
i=" a) senkrechter Anschliff b) Oberflachenausbildung
Bild 6: Durchlegierter ZnFe-Legierungstiberzug mit Stangelkristallen von zu 8-Phase
zerfallenen monoklinen {-Kristallen
In Bild 5 und 6 sind monokline Stangelkristalle zu erkennen, die normalerweise als Indiz
für das Auftreten der C-Phase dienen. Im senkrechten Anschliff ist jedoch in einem Fall
(Bild 6a) keine £-Phase festzustellen. Zusätzlich zeigt diese Probe eine andere Morpho-
Qr-