102 Prakt. Met. Sonderband 46 (2014) 
gewissen Fehler unterliegen, ist darauf zu achten, dass für eine eindeutige ein idealer P 
Phasenanteilsbestimmung eine ausreichende Anzahl an zweidimensionalen Bildern 40 s. Unter 
vorliegt, damit statistisch verlässliche Aussagen getroffen werden können. Damit der Polieren übe 
Aufwand der Bildanalyse eingeschränkt werden kann, können Phasenanteile auch mit Untersuchun 
XRD-Messungen, kombiniert mit nachträglicher verfeinerter Rietveld-Auswertung, 26-Winkelbei 
bestimmt werden. Der Vorteil dieser Methode besteht darin, dass zur Messgeschw 
Anteilsbestimmung eine größere Probenoberfläche herangezogen, und dadurch die XRD-Spektrt 
Phasenanteilsbestimmung verbessert wird. Da XRD-Messungen und die nachtragliche Tabelle 2 an 
Auswertung sehr sensitiv auf vorherrschende Eigenspannungen in der 
Probenoberfläche sind, wurde eine elektrolytische Präparationsmethode entwickelt, Tabelle ; 
die es ermöglicht, den Phasenanteil mittels XRD ohne störende Präparationsartefakte 7 
zu bestimmen. [Sc 
Es 
2. EXPERIMENTELLES Se 
Die untersuchte Legierung wurde von Böhler Edelstahl GmbH & Co KG mit der in Der Phasen 
Tabelle 1 angegebenen chemischen Zusammensetzung zur Verfügung gestellt. verfeinerten 
Tabelle 1: Chemische Zusammensetzung der Fe-Co-Mo-Legierung in m% MARS 
Kristallstrukt 
Rest 15.210.2 10.1101 (0.110.2410,2 entnehmen. 
Messungen 
Die Wärmebehandlungen wurden in einem TA INSTRUMENTS DIL805A Abschreck- Fit-Paramete 
dilatometer durchgeführt. Zur Temperaturmessung wurde ein B-Thermoelement Rietveld-Ver 
verwendet. Für die Untersuchungen wurden aus Stangenmaterial Dilatometerproben wurden die 
mit @ 5x 10 mm in Längsrichtung herausgearbeitet. Um die Unterschiede beim miteinbezog 
Lösungsglühen zu untersuchen, wurden zwei Losungsglihtemperaturen (1190°C und 
1220°C) ausgewahit und die isothermen Haltezeiten mit 2 min und 10 min variiert. Als Tabelle 3 
Aufheizrate wurde 120°C/min festgelegt und als Abschreckgeschwindigkeit eine | Gefiige 
ta‚s-Zeit von 6 s, d.h. A = 0,06, gewählt. Zusätzlich wurde eine Probe kontinuierlich mit 
120°C/min auf 1100°C erwärmt und danach mit A = 0,06 abgeschreckt. Zur . i 
Vorbereitung der metallographischen Schliffe wurden die Proben langs mittels | Ausga 
STRUERS ACCUTOM geteilt und warm in STRUERS POLYFAST eingebettet. Die | 
Schliffe wurden mit 500, 800, 1000 und 1200 Schleifkörnung für jeweils 2 min mit 30 N Lösur 
Anpresskraft mit Hilfe des Schleif- und Polierautomats STRUERS TERGRAPOL | Prima 
vorbereitet. Nach dem Schleifen wurden die Schliffe mit 3 um und 1pm 
Diamantsuspension fir je 2min mit 30 N aufpoliert. Die REM-Untersuchungen 
erfolgten an einem ZEISS EVO 50 im Ruckstreuelektronenkontrastmodus. Die 
energiedispersive Réntgenspektrospie (EDX) erfolgte mittels OXFORD SYSTEMS 3. ERGEB 
INCA EDX. Um ein Oberflachenrelief auszubilden, wurden die Proben eigens mit einer 
STRUERS OPS-Suspension fir 1 min mit 20 N poliert. Der Phasenanteil wurde Abbildung 1 
nachträglich mittels Flächenanteilsbestimmung aus 10 REM-Bildern pro Wéarme- erscheint im 
behandlungszustand bestimmt. Die REM-Bilder wurden dazu in der Software des. hohen 
ANALYSIS in Graustufenbilder umgewandelt und die beiden Phasen so stark in Bildkontrast 
schwarze (Matrix) und weiße (u-Phase) Bereiche umgewandelt, damit die Bereiche vo) 
Schwellwerte für die p-Phasen einheitlich für alle Wärmebehandlungszustände Bestimmung 
definiert werden konnten. Zur verbesserten XRD-Messung wurden die Proben nach Bild-kontrast 
dem Schleifen mit einem STRUERS LECTROPOL Gerat elektrolytisch poliert. Mit durchgeführt 
einem STRUERS A3-Elektrolyten wurde nach einer Strom-Spannungskurvenaufnahme Flachenante