154 Prakt. Met. Sonderband 46 (2014) 
Abtragen bestimmt werden. Durch die geringe laterale Auflösung der SIMS-Technik 
können Tiefenverteilungen der Intensität der Kohlenstofflinie an Querschliffen per 
Linienanalyse aufgenommen werden. Dadurch spielt die Komplexität der Bauteilgeometrie 
keine Rolle und selbst schwer zugängliche Stellen können ausgewertet werden. Die 
Ergebnisse der SIMS-Messungen sind allerdings nicht quantitativ. Jedoch kann durch eine 
Kalibrierung eine Umrechnung stattfinden, wodurch ein Vergleich mit dem Kohlenstoffprofil 
der optischen Emissionsspektrometrie möglich wird. Die Gegenüberstellung zeigt, dass 
die SIMS-Technik hervorragend geeignet ist die Kohlenstoffverteilung wiederzugeben. 
6. DANKSAGUNG 
Die Autoren danken der Deutschen Forschungsgemeinschaft (DFG) für die finanzielle 
Unterstützung bei der Durchführung der vorliegenden Arbeit. Höganäs AB sei ausdrücklich 
für die Bereitstellung von Zahnrädern aus Astaloy 85 Mo gedankt. Dem IWT Bremen se! 
für die Wärmebehandlung und der Tascon GmbH für die Durchführung der SIMS- 
Analysen gedankt. 
LITERATURVERZEICHNIS 
[1] Spur, G., Stöferle, T.: „Handbuch der Fertigungstechnik, Bd. 2 Wärmebehandeln“, 
Hanser Verlag München, 1987 
[2] Weißbach, W.: “ Werkstoffkunde : Strukturen, Eigenschaften, Prüfung“, Vieweg 
erlag Wiesbaden, 1979 
[3] Wünsch, G.: „Optische Analysenmethoden zur Bestimmung anorganischer Stoffe“, 
Walter de Gruyter & Co. Berlin-New York, 1976. 
[4] Düsterhöft, H., Riedel, M., Düsterhöft, H.K.: „Einführung in die Sekundärionen- 
massenspektrometrie -SIMS-“, B.G. Teubner Verlag Stuttgart, 1999. 
[5] Sauerborn, C.: „Modellierung der Stoffübertragung beim Niederdruckaufkohlen mit 
Acetylen“, Dissertation Karlsruher Institut für Technologie, 2008. 
[6] Norm DIN 51009: „Optische Atomspektralanalyse - Allgemeine Grundlagen und 
Begriffe“, Beuth Verlag Berlin. 2001.