Prakt. Met. Sonderband 46 (2014) 63 
an gleichmäßigen 
Lon Abb. 2: EBSD- Aufnahme eines Triplepunkts von MHC. (a) Aufnahme im 
Sekundarelektronen- Kontrast. (b) IPF- Mapping der Orientierungen von Mo 
Ye Ein interessanter Aspekt ist, dass große HfC- Ausscheidungen (+81 um, ~80 nm dick) nur 
bei einer Beschleunigungsspannung von 10 kV mit verwendeter Blende detektierbar sind. 
Abbildung 3 (a) zeigt ein Image Quality (IQ)- Mapping eines [001] orientierten Korns nach 
45 s elektrolytischen Polierens. Bereiche in denen eine schlechtere Patternqualität 
akquiriert wurde, werden hier dunkel dargestellt. Man kann deutlich sehen, dass die 
großen HfC- Teilchen im [001] orientierten Korn entweder auf der Kante stehen oder auf 
der Fläche liegen. Auf der Kante stehende Teilchen die sich entlang der Strahlachse 
befinden, haben eine bessere Patternqualität als jene quer zum Elektronenstrahl. 
Abbildung 3 (b) zeigt die Orientierungen von Mo, des Korngenzenkarbides Mo.C und der 
großen HfC- Ausscheidungen. Die entsprechende Farbkodierung der unterschiedlichen 
Kristall-strukturen befindet sich neben Abb. 3 (b). Zusätzlich ist jene 
Orientierungsbeziehung zwischen HfC und der Mo Matrix erkennbar, die Ryan et. al. 1968 
dargestellt im IPF gezeigt haben. Hierbei sind die {100}mo//{100}pt: Ebenen (auf der Fläche liegende Teilchen 
zu Matrix) sowie die <100>mo//<110>ppt Richtungen (auf der Kante stehende Teilchen zu 
Matrix) von Teilchen und Matrix zueinander parallel [12]. 
gte Zerrüttung der 
die mit MasterMet oben 
annten Bereich in 
genommen wurde. 
. In Abb. 2 (b) wird 
Die in Abb. 2 (a) wr 
m von scheinbaren 
ersichtlich. Diese 
lache hin [11]. Der 
ht eingeblendeten 
veiteren Scans mit 
Abb. 3: MHC Korn in [001] Orientierung. (a) IQ- Mapping. (b) 1Q + IPF- Mapping.