Full text: Fortschritte in der Metallographie

Prakt. Met. Sonderband 50 (2016) 87 
70% Mit zunehmender Polierdauer bei 
65% Vos 85% Re dem 3 ym und 1 pgm Schritt kommt 
Methode i es zu einer Verschlechterung des 
£ BR” ssthode 4 erreichten Volumenanteils in der 
beschichtung der Kathodenaktivmasse (siehe Bild 5). 
en zu deutlichen bo 550p ene ew. Ab ca. 35 min bei 1 pm ist ein 
bnis. Mit einem, geringer Anstieg des Aktivmassen- 
n  gemittelten, © 50% 4-—-i- volumenanteils in der Kathode 
inteil von 62 % lo erkennbar. Dieser Anstieg wird mit 
artikelausbriichen | 45% | Z x stark zunehmenden  Graphit- 
nahe an der ausbriichen in der Anoden- 
Volumenanteils 0 es beschichtung relativiert (siehe Bild 
lethode 4 wurde _ 4). Die von C. Hafner in [3] 
hoden 1-3 mit LS a verwendete Methode für die 
°k und verkürzter 30% In N Rundzellenpräparation konnte nur 
ariert. Für die | 20 min 40 min | Smin 36min 55 min bedingt auf die großflächige 
liegt der Polierschritt 3 um Polierschritt 1 um dy von pita 
inteil bei 48 %. N übertragen werden. ine 
liegen mit einem Praparationszsit ii] gleichldufige Rotationsbewegung 
nteil von jeweils Bild 5: Erreichter Aktivmassenvolumenanteil in Abhängigkeit von dem führt bei der Präparation von 
und sehr vielen Polierschritt und der Präparationsdauer anhand von Methode 1 und 4. PHEV2-Zellen zu sehr starken 
‚utlich unter dem Ausbrüchen der Partikel und einem gerichteten Materialabtrag. Der Abtrag setzt sich mit 
e 4. Der negative zunehmender Präparationszeit auf der Probenoberfläche fest und verhindert die folgende 
äparation ohne Gefügecharakterisierung. Die große Probenoberfläche der PHEV2-Zellen setzt für ganzflächig gute 
n Vergleich von Priparationsergebnisse eine absolut plane Schlifffliche nach dem Schleifen voraus. Zudem ist 
er Methode 2 durch die sehr lose eingebundenen Aktivpartikel eine Nachinfiltration vor dem Feinschleifen 
sinschleifen mit unumgänglich. 
rnigeren SiC- 
3 3 führte trotz 4.3 Kategorisierung herstellungsbedingter Defekte im Zellaufbau von LiB 
zu einem 
nis. Die beim Abscannen der PHEV2-Zellen typischen und am häufigsten vorkommenden Ungänzen 
fügeausbringende sind in Bild 6 beispielhaft dargestellt. Es handelt sich um Ungleichverteilungen der Volumina / 
ngt nahezu keine Partikelgröße von Speichermaterialien in den Elektrodenaktivmassen, Schichtdickenschwankungen 
‘erbesserung von der Elektrodenableiter und Fremdpartikel im Zellaufbau 
ir 
du pur 
Polierschritten nach Bild 6: Qualitätsrelevante Gefügeparameter im feingeometrischen Zellaufbau. Lichtmikroskopische Aufnahmen einer 
Partikelgrößeninhomogenität der Speichermaterialien (6-a); Schichtdickenschwankungen der Elektrodenableiter (6-b): 
Fremdpartikel im Zellaufbau (6-c)
	        
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