VIII Prakt. Met. Sonderband 50 (2014)
Prazisionsplanschleifen in der Metallografie — Erfahrungen mit einem industriellen Spanr
Verfahren im Laboralltag ausge
J. Laimmer, T. Rösel, Open Grid Europe, Essen; M. Dudek, M. Moik, M. Ruda, S. Strc
S. Seeger, Berufskolleg West, Essen T. Part
GroBfléchige materialographische Préparation prismatischer Lilonen Zellen
(PHEV2) fir Energiespeicher IV. K
P. Schirle, A. Kopp, C. Weisenberger, A. Jansche, F. Trier, T. Bernthaler, G. Schneider,
Hochschule Aalen 3 Phaser
CoCr
50 Jahre als Metallographin — von Berlin nach Los Angeles - Gedanken über damals. | Weı
heute und die Zukunft der Metallographie FP. Voi
f. Hogue, Hogue Metallography, Los Angeles, USA
Entwic
Präparation Glas- und Carbon- verstärkter Kunststoffe für die optische legier
Schadensanalyse M. Sp
H.-H. Cloeren, Cloeren Technology GmbH, Wegberg; G. Jeschke, }
Lette Verein, Berlin; M. Kern, MicroKern Berlin Verstar
Kobalt
Möglichkeiten der Gefügedarstellung mit Atzlésungen aus Kiiche und Bad I. Sch
M. Thies, Inncoa GmbH, Neustadt (Donau); H.-H. Cloeren, Mapa
Cloeren Technology GmbH, Wegberg
V. An
lll. Gefiigeuntersuchungen zur Bewertung von Schadensféllen uy
Stromdurchgang, Graufleckigkeit, Korrosion oder Mischreibung als Ursache von Das ©
Schäden an Wälzlagerlaufbahnen und Getriebeverzahnungen — si
Schadigungsmerkmale und Analysenmethodik zur eindeutigen Klassifizierung BECH
der Schadensursache
F. Ahrens, H. Oelschner, F. M. Ahrens, MQ Engineering GmbH, Rostock — Bentwisch 107 salts
Korrosionsschaden an einer Seewasserpumpe aus der Mehrstoffalumiuniumbronze Il
CuAl10Fe5Ni5-C-GS Corl Z
M. Schuster, MTU Friedrichshafen GmbH 1173 Un
niver.
Schadensanalyse an Kurbelwellen Denme
N. Lindner, M. Pohl, Ruhr-Universität Bochum >
Computertomographie und deren Anwendung in der Schadensanalytik VI. IN
M. Panzenböck, M. Borchert, C. Freitag, Montanuniversität Leoben, Österreich 125
3D-Bru
Risse in feuerverzinkten Stahlbauteilen } M. Fis
C. Freitag, M. Panzenbéck, Montanuniversitét Leoben, Österreich . J]
Unterst
Metallographische Untersuchung von Brandschéden in der Elektronik R. Ha
K. Reiter, S. Puls, Fraunhofer Institut fir Siliziumtechnologie, Itzehoe
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