200 Prakt. Met. Sonderband 52 (2018) 
wurde mittels Strom-Spannungs-Kurven kontrolliert und bestätigt. Während die y-TiAI und ' 
die o2-TisAl Phase vergleichsweise hohe elektrische Leitfähigkeiten besitzen ist die Na 
Leitfähigkeit der ßo-TiAl Phase deutlich geringer, welches bei strombasierten Prüfverfahren 
als Materialfehler (z.B. Risse) fehlinterpretiert werden kann. 
LITERATURNACHWEISE 
Apsirav 
[11 H. Clemens, S. Mayer, “Intermetallic Titanium Aluminides as Innovative High 
Temperature Lightweight Structural Materials — How Materialographic Methods Have hi 
Contributed to Their Development”, Pract. Metallogr., 52, 2015, p.691 ay 
[2] M. Huszar, “Atomic force microscopy based electrical characterization of a multi- 4 Tell 
phase intermetallic TiAI alloy“, Bachelorarbeit, Institut für Physik, Montanuniversität mel 
Leoben, Österreich, 2018 Te ’ 
[3] G. Binnig, C.F. Quate, C. Gerber, “Atomic force microscope“, Phys. Rev. Lett., 56, . . 
1986 p.930 Wh 
[4] C. Teichert, I. Beinik, “Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and a ek 
Nanotechnology”, (vol 2) edited by B.Bushan, Springer-Verlag Berlin Heildelberg, yo 
2011, p.693 
[5] M. Nonnenmacher, M. P. O‘Boyle, H. K. Wickramasinghe, “Kelvin probe force 
microscopy", Appl. Phys. Lett., 58, 1991, p.2921 Eile 
[6] D. Necas, P. Klapetek, “Gwyddion: an open-source software for SPM data analysis”, 
Cent. Eur. J. Phys. 10, 2012, p.181 face 
[71 M. Schioffer, F. Igbal, H. Gabrisch, E. Schwaighofer, F.-P. Schimansky, S. Mayer, A. oe 
Stark, T. Lippmann, M. Géken, F. Pyczak, H. Clemens, “Microstructure Development or a 
and Hardness of a Powder Metallurgical Multi Phase v-Tial Based Alloy”, (Na) wird 
Intermetallics, 22, 2012, p.231 N Lan 
RE 
durch we 
Deschäfll 
Gefügeat 
der Cor 
der Mag 
Zweikom 
J Ao 
Eigensch 
Flan 
Meigs 
Mischung 
Rs D 
Schieber 
Nf an