Full text: Fortschritte in der Metallographie

Prakt. Met. Sonderband 52 (2018) 293 
Von Richtreihe zu Bildanalyse: Reinheitsgradmessung bei 
Automatenstählen 
St. Stücklin‘, J. Pühringer2, D. Moll®, E. Aksoy*, F. Rosar*, D. Lober®, L. Thieme® 
Swiss Steel AG 
voestalpine Stahl GmbH 
AG der Dillinger Hüttenwerke 
Saarstahl AG 
Deutsche Edelstahlwerke Specialty Steel GmbH & Co. KG 
PixelFerber 
ABSTRACT 
Das Stahl-Eisen-Prüfblatt (SEP) 1572 “Mikroskopische Prüfung von Automatenstählen auf 
sulfidische Einschlüsse mit Bildreihen” [1] wurde 1971 im Verlag Stahleisen unter 
redaktioneller Leitung des Stahlinstituts VDEh veröffentlicht, um auch bei Stählen mit 
bewusst hohem Einschlussgehalt die Ausbildung der Einschlüsse charakterisieren zu 
können. Das Prüfblatt ist auf die manuelle Auswertung mittels Bild-Richtreihen ausgelegt 
und ist nicht direkt der Bildanalyse zugänglich. 
Mit dem Ziel, die Prüfung sowohl manuell als auch bildanalytisch zu ermöglichen, und 
gleichzeitig eine möglichst hohe Entsprechung zur Ausgabe von 1971 zu gewährleisten, hat 
sich eine Projektgruppe innerhalb des Stahlinstituts VDEh die Überarbeitung des Prüfblatts 
inklusive Bild-Richtreihe vorgenommen Das überarbeitete SEP 1572 befindet sich in der 
finalen Abstimmung und wird voraussichtlich in Kürze veröffentlicht [2]. Die neuen 
Klassendefinitionen und deren mathematisch fassbare Klassengrenzen werden in diesem 
Beitrag vorgestellt. 
1. GRUNDLAGEN 
Das Kernstück des SEP 1572 ist die auf den Richtreihen von H. Diergarten aufbauende 
Bild-Richtreihe, welche in drei Spalten (im Prüfblatt wie auch im folgenden Text Kolonnen 
genannt) und vier Zeilen organisiert ist. Das Prüfblatt macht keine Aussagen zur Systematik 
der Richtreihe, gibt aber bei einem kleinen Exkurs zur Bildanalyse, die damals schon 
ansatzweise berücksichtigt wurde, die Parameter Flächenanteil und Teilchendichte an. 
Die Bild-Richtreihe besteht jedoch aus realen Bildern, und bei der vergleichenden 
Auswertung durch das menschliche Auge laufen komplexe bildanalytische Prozesse ab. 
Diese sind gezwungenermassen prüferabhängig: schon die Antwort zur Frage, ob der 
grösste Einschluss im Sehfeld oder der häufigste Einschlusstyp im Sehfeld das Ergebnis 
bestimmt, wird nicht einheitlich ausfallen. Ebenso kann davon ausgegangen werden, dass 
bewusst oder unbewusst gewisse Einschlüsse ausgeklammert werden. sowohl beim 
Richtreihenbild als auch im Okular. 
Erschwerend kommt hinzu, dass eine bildanalytische Auswertung der Bilder der Bild- 
Richtreihe teils stark von den im SEP 1572 festgehaltenen Werten abweichende Resultate 
ergibt. Dieses Ergebnis wurde von verschiedenen Bildanalyseprogrammen bestätigt, die 
miteinander gute Übereinstimmung aufwiesen. Partikel unter 4 um Grösse wurden dabei 
wie im Prüfblatt erwähnt ausgeschlossen.
	        
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