Prakt. Met. Sonderband 52 (2018) 323
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alt. Ni 3.2 ERGEBNISSE DER PROBEN AUS DEM VAKUUMINDUKTIONSOFEN
: §
Wey
tay In Abb. 4 sind die Korngrélienverteilungen des Referenzblockes sowie der mit Korn-
feinungsmitteln hergestellten Blöcke dargestellt. Aus dieser geht hervor, dass in Probe 4
(Referenz) und Probe 6 (Ce/S) ein Großteil der Körner mit einer Größe von > 1000 um
vorliegen. In Probe 5 (Ce/O) dagegen liegt ein höherer Anteil an feinen Körnern vor, somit
konnte in dieser Probe eine Kornfeinung erzielt werden. Die automatisierte Einschluss-
analyse zeigte, dass dies nicht auf die generelle Einschlussdichte bzw. auf die generelle
Einschlussgrößenverteilung in Probe 5 und Probe 6 zurückgeführt werden kann, da sich
diese in den beiden Proben nur geringfügig unterscheiden (Abb. 5).
a) Probe 4 (Referenz) b) Probe 5 (Ce/O) Cc) Probe 6 (Ce/S)
30; ECD: 1036 + 545 [um] 3 ECD: 616 + 351 [um] ot ECD: 914 + 644 [um]
25 25 25
20) 20! 204
De A 3
Z 10 £104 1
Ss 5 5 ey
dei halbam oe EEL i 0d mel "YF oe
ABCDEFGH II JK ABCDEFGH I JK ABCDEFGHI J.
KorngréRen ECD [um] Korngrößen ECD [um] Korngrößen ECD [um]
A: <100 B: 100-200 C: 200-300 D: 300-400 E: 400-500 F: 500-600
G: 600-700 H: 700-800 1: 800-900 J: 900-1000 K:>1000
Abb. 4: Korngrößenverteilungen, berechnete Mittelwerte bzw. Standardabweichungen der
ECD, welche zentrumsnahe in den VIO-Blöcken bestimmt wurden.
a) b)
—60 Probe 2 (Ce/O) 60 | Probe 3 (Ce/S)
z Einschiussdichte: 145 [1/mm?] = Einschiussdichte: 405 [1/mm?]
E50 E 50
2 40 2 404
j ©
„304 iL 304
2
Probe .. 204 ß 20-
J 5
ten. Zumelst 210 | i | J i i | | T 210 >
id -Ce-Sufid “9 LB „0 “og {8 8 8
ie Oxide und Lt 2 3 4 3 p23 4 5
"tide ue Einschliissgrofie ECD [um] Einschilissgréfte ECD [um]
» hegre ] Ce-Sulfide Ce-Oxide 7 Ce-Oxisulfide
egenden Fal Abb. 5: EinschlussgréRenverteilung und Einschlussdichten, bestimmt zentrumsnahe an
Idet oder die Probe 5 (a) und Probe 6 (b).
besetzt sind. . Sn ; .
Komfeinung Manuelle Untersuchungen einzelner Partikel im REM belegen, dass erneut ein hoher Anteil
ırden, könnte der Einschlüsse heterogen vorliegt. Problematisch ist vor allem, dass häufig die Oberflächen
Um dies zu der Ce-Partikeln aufgrund einer Belegung mit anderen nichtmetallischen Einschlüssen nicht
frei vorliegen (Abb. 6). Im Zuge der manuellen Analyse zeigte sich eine markante Tendenz
zur Belegung der Partikeloberfläche mit Ti-Nitrid. In Ce-Partikeln wird im Gegensatz zu den
Ti-Nitrid-Teilchen kein signifikanter Anteil an Ti gelöst. Da bei heterogenen Einschlüssen die
Ti-Nitrid-Partikel mitdetektiert werden, können heterogene Ce-Ti-Partikel von homogenen
Ce-Partikeln durch ihren erhöhten Ti-Gehalt (Ti-Gehalt > Ti-Gehalt der Matrix) bei der
Auswertung der Daten der automatisierten Einschlussanalyse unterschieden werden. Bei
