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gedrehte. Oberfläche 
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HER, A. RL EEE... a0 
geschlifene Oberfläche 
Oberfläche nach Elnüralbehandlung 
Abb. 2. Die bei verschiedenen Bearbeitungsverfahren entstehenden 
Oberflächennprofile (nach A. Wallichs). 
Die links neben den Kurven verzeichneten Zahlen- 
werte bedeuten die höchsten Höhendifferenzen in den 
Profilkurven, angegeben im tausendsten Teil eines 
Millimeters. 
Ein anderes Untersuchungsverfahren stellt das von 
Emil Busch, Rathenow, herausgebrachte Oberflächen- 
prüfgerät dar. Sein Prinzip beruht darauf, daß schräg 
einfallendes Licht Schatten von den Oberflächenpro- 
filen wirft, die sich bei der Betrachtung in ungefähr 
5SOfacher Vergrößerung deutlich abheben. 
Abbildung 3 zeigt eine vergleichende Aufnahme zwi- 
schen einer geschliffenen Oberfläche und einer Ober- 
äche, die nach dem Elnüral-Verfahren behandelt war. 
Die Reproduktion kann leider die im Prüfgerät sicht- 
baren Öberflächeneigenarten nicht so gut wiederge- 
ben. Gleichwohl zeigen auch diese Aufnahmen in hin- 
reichender Weise die durch die Elnüral-Behandlung 
eingetretene Oberflächenauflockerung. 
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