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Full text

Title
Theorie der Mikrometer und der mikrometrischen Messungen am Himmel
Author
Becker, Ernst Emil Hugo

Doppelbildmikrometer. 137
jedesmaligen Ablesung o der Scala und der für die betreffende Temperatur
(N — o) mm
gültigen Normalstellung N gemäss dem Ausdruck worden waren, die Gleichung ergeben:
49-4659r= 1117" 49 oder r = 22"-591 für t = -+- 15°-8 C und JV = 1-95.
ds
Nun ist — = 11.10— 6 , ferner, da das Rohr aus Stahlblech hergestellt ist,
dl = 6916.11.10 -6 , und da die Ablesung der Ocularscala abnimmt, wenn das
Mikrometer vom Objectiv entfernt wird, do = 4- (V0214 oder wegen 1 P — P2G mm
df dr
do — 4- 0 027 mm, mithin — = (11 4-4) 10 -6 und — = (11 — 15) 10~ 6 oder
dr — — 0-000004 X 22*591.
Der Schraubenwerth ergiebt sich also aus dieser Untersuchung
r = 22"-591 — 0"-000090(/° — 15°-8);
es wird hierbei vorausgesetzt, dass das Ocular sich in der der Temperatur t
entsprechenden Normalstellung befindet; für eine Beobachtung, die in einer
anderen Stellung o gemacht wäre, würde noch hinzukommen:
dr = — y(N — o) 1-26 = — 0"0041(7V ^ o).
III. Doppelbildmikrometer.
Es ist bereits an anderer Stelle auf die aus der Beugung des Lichtes an
den materiellen Fäden oder Lamellen entspringenden Nachtheile hingewiesen
worden, welche dem Fadenmikrometer und mit ihm allen denjenigen Apparaten
anhaften, bei welchen die Messvorrichtung in der Focalebene des Objectives
sich befindet. Auch nach einer anderen Richtung geben die bisher besprochenen
Mikrometer zu Aussetzungen Anlass. In Folge der ungleichmässigen und
wechselnden Erwärmung der Luftschichten und der meist unvollkommenen Aus
gleichung der äusseren Temperatur und derjenigen des Beobachtungsraumes sind
die zu beobachtenden Objecte nur ganz selten in Ruhe, gewöhnlich oscilliren
sie um eine mittlere Lage, von der aus sie sich um grössere oder geringere
Ausschläge periodisch entfernen. Sind die zu vergleichenden Objecte einander
scheinbar sehr nahe, wie es bei mikrometrischen Messungen häufig der Fall
ist, dann werden die Ausschläge zu derselben Zeit in demselben Sinn und
Betrag erfolgen und man wird von ihrem Einfluss mehr oder weniger frei, wenn
die Einstellung auf beide Objecte eine nahe gleichzeitige ist; werden sie aber
zu verschiedenen Zeiten pointirt oder werden ihre Antritte an einem Faden
beobachtet, so werden die Bilder zur Zeit der Beobachtung im Allgemeinen in
verschiedenen Phasen sein, und die unvermeidliche Folge ist eine Vergrösserung
des zufälligen Fehlers. In derselben Weise wirkt bei den Messungen mit dem
Positionsmikrometer ein ungleichförmiger Gang des Uhrwerks, wenngleich hier
bei einem einigermaassen guten Regulator die Schwankungen langsamer erfolgen
und ihr Einfluss durch rasches und abwechselndes Wenden des Auges von einem
Object zum andern leichter aufgehoben werden kann. Von diesen Mängeln
sind die Messungen mittelst der Doppelbildmikrometer frei. Das Princip, welches
diesen Apparaten zu Grunde liegt, besteht kurz in Folgendem.
Von dem auszumessenden Gegenstand, z. B. einer Planetenscheibe, wird
ein doppeltes Bild entworfen, in der Weise, dass der Abstand der beiden Bilder
durch eine an zweckmässig angebrachten Scalen bestimmbare Lagenänderung