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A PASTIELS, 
Docteur en sciences naturelles. 
LA STÉRÉOPHOTOGRAMMÉTRIE 
APPLIQUÉE A L'ÉTUDE MORPHOLOGIQUE 
DE PETITS OBJETS 
Le grand physicien anglais Lord KELVIN se plaisait à répéter : « | Often say that it 
you measure that of which you speak, you know something of your subject; but if you cannot 
measure it, your knowledge is meager and unsatisfactory ». Dans les laboratoires de ja 
recherche scientifique ou industrielle, il y a deux domaines oü l'exercice de la mensuration 
précise reste difficile et ingrat en raison de l'instrumentation existante. La difficulté devient 
méme considérable quand l'estimation porte sur des arcs de courbure variable ou sur des 
surfaces gauches. Ces domaines sont : l'appréciation tridimensionnelle des petits objets 
de 0,1 à 10 mm, et à l'échelon suivant, la mesure du relief des objets, de taille inférieure 
à 0,1 mm dont l'étude et la reproduction constituent la micrographie. 
Jusqu'il y a peu d'années la technique de l'agrandissement photomacro- et photomicro- 
graphique (P. PIZON) représentait le seul recours pratiquement utilisable. En effet, dans le 
premier des cas cités, qui nous intéresse praticulièrement, les instruments de mesures communs, 
tels que règle graduée, calibre à coulisse, micromètre, rapporteur d’angles, clinomètre, etc. sont 
très souvent d’un emploi malaisé par leurs dimensions propres beaucoup plus grandes que les 
objets auxquels ils doivent être appliqués. Au surplus il est difficile de trouver des points 
d'application bien définis et représentatits. 
La nécessité d’un contrôle métrologique de plus en plus sévère dans la fabrication de 
petites pièces de haute précision a incité depuis une décade les constructeurs d'instruments 
scientifiques à établir des appareils de mesure industrielle la plupart mécano-optiques, fort 
précis. Ceux-ci permettent des mensurations de petits objets dans deux, voire quelquefois trois 
dimensions de l'espace, toujours point par point. Les instruments qui n'autorisent que deux 
mesures, suivant des axes rectangulaires, généralement dans le méme plan, appartiennent à 
la catégorie des « projecteurs de profil » et travaillent en dia- ou en épiscopie. Un autre type 
d’appareil donnant parfois des mesures tridimensionnelles, est le « comparateur optique » 
généralement composé d’une lunette de pointage (ou d’un comparateur-palpeur) coulissant 
le long d’un axe vertical perpendiculaire à un système de chariots, porte-objet horizontal. 
Avec l’une ou l'autre de ces catégories d'appareils de pointage, on obtient soit des 
mesures point par point, soit des tracés de profils extérieurs, et ces méthodes d'investigation 
spatiale peuvent étre qualifiées de « ponctuelle » ou de « linéaire ». A partir de ces données 
il y a lieu dans bien des cas de se représenter la configuration de petits objets dans l'espace 
ou dans leur rapport avec les objets voisins. Ceci nécessite une interpolation entre les points 
du nivellement pour l'obtention d'une représentation correcte de la topographie. Pour cette 
représentation spatiale, les méthodes usuelles sont soit la reconstruction plastique, soit la 
reconstruction graphique qui ont été rappelées et exposées en 1937 par L. LISON. Citons 
parmi ces procédés d'usage au laboratoire, la reconstruction projective de HIS, l'isolement 
graphique de KATSCHENKO, la reconstruction en vue oblique de PETER et la reconstruction 
perspective de LISON. 
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